| 主权项 |
1.一种仲裁参数产生电路,包括:一计数器,接收一主区块产生之占用一系统滙流排之一需求信号以及一仲裁器产生之允许该主区块占用该系统滙流排之一允许信号,当该需求信号为一第一逻辑电位时,该计数器往上计数,当该允许信号为该第一逻辑电位时,该计数器往下计数,该计数器回应于一既定短期参考时间信号而重设;一短期仲裁参数储存单元,接收与储存该计数信号为一短期仲裁参数,直到该计数器回应于该短期参考时间信号而重设之前;一短期参考时间测量单元,当一短期参考时间结束时,回应于一时脉信号而产生该短期参考时间信号,其中该短期参考时间代表该短期仲裁参数储存于短期仲裁参数储存单元内之一时期;一长期仲裁参数控制单元,连续累积从该短期仲裁参数储存单元输出之该短期仲裁参数,将所累积之该短期仲裁参数输出为一长期仲裁参数,并回应于一长期参考时间信号而重设;以及一长期参考时间测量单元,当一长期参考时间结束时,回应于该短期参考时间信号而产生该长期参考时间信号。2.如申请专利范围第1项所述之仲裁参数产生电路,其中该长期仲裁参数控制单元包括:一加法器,连续累加从该短期仲裁参数储存单元所输出之该短期仲裁参数;一暂存器,储存该加法器之输出,并回应于该长期参考时间信号而重设;以及一长期仲裁参数储存单元,回应于该长期参考时间信号而将该暂存器之输出储存成该长期仲裁参数。3.如申请专利范围第2项所述之仲裁参数产生电路,其中该长期参考时间测量单元包括:一长期计数器,计数该短期参考时间信号之产生次数并回应于该长期参考时间信号而重设;以及一长期比较单元,预先储存该长期仲裁参数存于该长期仲裁参数储存单元内之该时间为该长期参考时间,以及当该长期计数器之输出到达该长期参考时间时,产生该长期参考时间信号。4.如申请专利范围第2项所述之仲裁参数产生电路,其中该长期参考时间信号在每产生2n-p次的该短期参考时间信号时或之前产生,其中n代表该加法器之位元宽度,而p代表该短期仲裁参数储存单元所输出之该短期仲裁参数之位元数。5.如申请专利范围第1项所述之仲裁参数产生电路,其中该短期参考时间测量单元包括:一短期计数器,计数该时脉信号并回应于该短期参考时间信号而重设;以及一短期比较单元,预先储存该短期仲裁参数存于该短期仲裁参数储存单元内之时间为该短期参考时间,当该短期计数器之输出到达该短期参考时间时,产生该短期参考时间信号。6.如申请专利范围第5项所述之仲裁参数产生电路,其中该短期参考时间信号产生于每2m次之该时脉信号之周期之时或之前,其中m代表该短期计数器之位元宽度。7.如申请专利范围第1项所述之仲裁参数产生电路,其中计算该短期仲裁参数系由将该需求信号在该第一逻辑电位之产生次数减去该允许信号在该第一逻辑电位之产生次数而得。8.如申请专利范围第1项所述之仲裁参数产生电路,其中该短期仲裁参数只从该计数器之输出择出高阶p位元。9.一种滙流排参数产生电路,包括:一计数器,当资料透过一系统滙流排而传输时,往上计数该资料,并回应于一既定短期参考时间信号而重设;一短期滙流排使用参数储存单元,接收与储存往上计数资料为一短期滙流排使用参数,直到该计数器回应于该短期参考时间信号而重设之前;一短期参考时间测量单元,当一短期参考时间结束时,产生该短期参考时间信号,该短期参考时间代表该短期滙流排使用参数储存于该短期滙流排使用参数储存单元内之一时期;一长期滙流排使用参数控制单元,在一既定时间内连续累积从该短期滙流排使用参数储存单元输出之该短期滙流排使用参数,将所累积之该短期滙流排使用参数输出为一长期滙流排使用参数,并回应于一既定长期参考时间信号而重设;以及一长期参考时间测量单元,当一长期参考时间结束时,回应于该短期参考时间信号而产生该长期参考时间信号。10.如申请专利范围第9项所述之滙流排使用参数产生电路,其中该长期滙流排使用参数控制单元包括:一加法器,连续累加从该短期滙流排使用参数储存单元所输出之该短期滙流排使用参数;一暂存器,储存该加法器之输出,并回应于该长期参考时间信号而重设;以及一长期滙流排使用参数储存单元,回应于该长期参考时间信号而将该暂存器之输出储存成该长期滙流排使用参数。11.如申请专利范围第10项所述之滙流排使用参数产生电路,其中该长期参考时间测量单元包括:一长期计数器,计数该短期参考时间信号之产生次数并回应于该长期参考时间信号而重设;以及一长期比较单元,预先储存该长期滙流排使用参数存于该长期滙流排使用参数储存单元内之该时间为该长期参考时间,以及当该长期计数器之输出到达该长期参考时间时,产生该长期参考时间信号。12.如申请专利范围第10项所述之滙流排使用参数产生电路,其中该长期参考时间信号在每产生2n-p次之该短期参考时间信号之时或之前产生,其中n代表该加法器之位元宽度,而p代表该短期滙流排使用参数储存单元所输出之该短期滙流排使用参数之位元数。13.如申请专利范围第9项所述之滙流排使用参数产生电路,其中该短期参考时间测量单元包括:一短期计数器,计数该时脉信号并回应于该短期参考时间信号而重设;以及一短期比较单元,预先储存该短期滙流排使用参数存于该短期滙流排使用参数储存单元内之该时间为该短期参考时间,以及当该短期计数器之输出到达该短期参考时间时,产生该短期参考时间信号。14.如申请专利范围第13项所述之滙流排使用参数产生电路,其中该短期参考时间信号产生于每2m次之该时脉信号之周期之时或之前,其中m代表该短期计数器之位元宽度。15.如申请专利范围第9项所述之滙流排使用参数产生电路,其中该短期滙流排使用参数等于透过该系统滙流排传输资料之次数。16.如申请专利范围第1项所述之滙流排使用参数产生电路,其中该短期滙流排使用参数只从该计数器之输出择出高阶p位元。17.一种系统单晶片,包括一系统滙流排,透过该系统滙流排传输资料之第一~第n主区块,与控制该主区块占用该系统滙流排之一仲裁器,该系统单晶片包括:一滙流排使用参数控制电路,回应于一既定短期参考时间信号而测量在一既定短期参考时间内透过该系统滙流排传输资料之次数,将所测量之次数产生为一短期滙流排使用参数,以及回应于一既定长期滙流排使用参数信号而将在一既定时间内累积之一短期滙流排使用参数产生为一长期滙流排使用参数;一短期参考时间测量单元,当该短期参考时间结束后,回应于一时脉信号而产生该短期参考时间信号;以及一长期参考时间测量单元,当一既定长期参考时间结束后,回应于该短期参考时间信号而产生一长期参考时间信号;其中各主区块包括一仲裁参数控制电路,接收为该些主区块占用该系统滙流排所产生之一需求信号以及该仲裁器产生之允许该些主区块占用该系统滙流排之一允许信号,回应于该短期参考时间信号而计数在一第一逻辑电位之该些需求信号与该些允许信号之产生次数,产生一短期仲裁参数,回应于该长期参考时间信号而连续累积一既定时间内之该短期仲裁参数并将所累积之短期仲裁参数产生为一长期仲裁参数。18.如申请专利范围第17项所述之系统单晶片,其中该滙流排使用参数控制电路包括:一滙流排计数器,当资料透过该系统滙流排传输时,回应于该时脉信号而往上计数该资料,并回应于该短期参考时间信号而重设;一短期滙流排使用参数储存单元,回应于该短期参考时间信号而接收与储存往上计数资料为该短期滙流排使用参数,直到该计数器重设前;一长期滙流排使用参数控制单元,在一既定时间内连续累积从该短期滙流排使用参数储存单元输出之该短期滙流排使用参数,将所累积之该短期滙流排使用参数输出为该长期滙流排使用参数,并回应于该既定长期参考时间信号而重设。19.如申请专利范围第18项所述之系统单晶片,其中该长期滙流排使用参数控制单元包括:一滙流排加法器,连续累加从该短期滙流排使用参数储存单元所输出之该短期滙流排使用参数;一滙流排暂存器,储存该加法器之输出,并回应于该长期参考时间信号而重设;以及一长期滙流排使用参数储存单元,回应于该长期参考时间信号而将该暂存器之输出储存成该长期滙流排使用参数。20.如申请专利范围第17项所述之系统单晶片,其中该仲裁参数控制电路包括:一计数器,接收该需求信号与该允许信号,当该需求信号在一第一逻辑电位时往上计数,当该允许信号在该第一逻辑电位时往下计数,以及回应于该短期参考时间信号而重设;一短期仲裁参数储存单元,直到该计数器重设前,回应于该短期参考时间信号而接收与储存该计数信号为一短期仲裁参数;以及一长期仲裁参数控制单元,连续累积从该短期仲裁参数储存单元输出之该短期仲裁参数,将所累积之该短期仲裁参数输出为一长期仲裁参数,并回应于该长期参考时间信号而重设。21.如申请专利范围第20项所述之系统单晶片,其中该长期仲裁参数控制电路包括:一加法器,连续累积从该短期仲裁参数储存单元输出之该短期仲裁参数;一暂存器,储存该加法器之输出并回应于该长期参考时间信号而重设;以及一长期仲裁参数储存单元,回应于该长期参考时间信号而将该暂存器之输出储存成为该长期仲裁参数。22.一种仲裁参数产生方法,该仲裁参数决定透过一系统滙流排传输资料之主区块之优先权,该方法包括:(a)回应于一时脉信号而产生用于决定一既定短期仲裁参数之储存时间之一短期参考时间信号;(b)接收该主区块为占用该系统滙流排产生之一需求信号与一仲裁器允许该主区块占用该系统滙流排产生之一允许信号,以及回应于该短期参考时间信号而产生一短期仲裁参数;(c)回应于该短期参考时间信号而产生用于决定一既定长期仲裁参数之储存时间之一长期参考时间信号;以及(d)回应于该长期参考时间信号而在一既定时间内连续累积该短期仲裁参数,以及将所累积之该短期仲裁参数输出成一长期仲裁参数。23.如申请专利范围第22项所述之方法,其中步骤(b)更包括:(b1)当该需求信号为一第一逻辑电位时,往上计数;当该允许信号为该第一逻辑电位时,往下计数;以及将一计数値输出成该短期仲裁参数;以及(b2)回应于该短期参考时间信号而重设该计数値,以及根据逻辑电位而计数该需求信号与该允许信号。24.如申请专利范围第23项所述之方法,其中该短期仲裁参数之计算系由将该需求信号在该第一逻辑电位之产生次数减去该允许信号在该第一逻辑电位之产生次数而得。25.如申请专利范围第23项所述之方法,其中步骤(d)更包括:(d1)连续累积该短期仲裁参数以及将所累积之该短期仲裁参数输出成该长期仲裁参数;以及(d2)回应于该长期参考时间信号而重设所累积之该短期仲裁参数,连续累积该短期仲裁参数以及将所累积之该短期仲裁参数输出成该长期仲裁参数。26.如申请专利范围第22项所述之方法,其中该短期参考时间信号之产生时期短于该长期参考时间信号之产生时期。27.一种滙流排使用参数产生方法,该滙流排使用参数决定透过一系统滙流排传输资料之主区块之优先权,该方法包括:(a)回应于一时脉信号而产生用于决定一既定短期滙流排使用参数之储存时间之一短期参考时间信号;(b)当资料透过该系统滙流排而传输时,回应于该时脉信号与该短期参考时间信号而往上计数资料,以及将该计数资料输出成该短期滙流排使用参数;(c)回应于该短期参考时间信号而产生用于决定累积该短期滙流排使用参数之时期之一长期参考时间信号;以及(d)回应于该长期参考时间信号而在一既定时间内连续累积该短期滙流排使用参数,以及将所累积之该短期滙流排使用参数输出成一长期滙流排使用参数。28.如申请专利范围第27项所述之方法,其中步骤(b)更包括:(b1)当资料透过该系统滙流排而传输时,回应于该时脉信号而往上计数资料并将该计数资料输出成该短期滙流排使用参数;以及(b2)回应于该短期参考时间信号而重设该计数资料,以及当资料透过该系统滙流排而传输时,回应于该时脉信号而往上计数资料并将该计数资料输出成该短期滙流排使用参数。29.如申请专利范围第27项所述之方法,其中该短期滙流排使用参数系透过该系统滙流排之资料传输之次数。30.如申请专利范围第27项所述之方法,其中步骤(d)更包括:(d1)连续累积该短期滙流排使用参数以及将所累积之该短期滙流排使用参数输出成该长期滙流排使用参数;以及(d2)回应于该长期参考时间信号而重设所累积之该短期滙流排使用参数,连续累积该短期滙流排使用参数以及将所累积之该短期滙流排使用参数输出成该长期滙流排使用参数。31.如申请专利范围第27项所述之方法,其中该短期参考时间信号之产生时期短于该长期参考时间信号之产生时期。图式简单说明:第1图是一般系统单晶片(system-on-chip, SOC)之方块图。第2图显示一短期仲裁参数与一短期滙流排使用参数之产生时序图。第3图显示根据本发明第一实施例之仲裁参数产生电路之方块图。第4图显示短期参考时间与长期参考时间。第5图显示根据本发明第二实施例之滙流排使用参数产生电路之方块图。第6图显示根据本发明第三实施例之SOC之方块图。第7图显示根据本发明第一实施例之仲裁参数产生方法之流程图。第8图是第7图之步骤720之详细图。第9图是第7图之步骤740之详细图。第10图显示根据本发明第二实施例之仲裁参数产生方法之流程图。第11图是第10图之步骤1020之详细图。第12图是第10图之步骤1040之详细图。 |
