发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 半导体装置包括在基板(1)上形成的绝缘膜(6,8)、在绝缘膜(6,8)中形成的埋入连线(14)、以及在绝缘膜(6,8)与埋入连线(14)之间形成的金属阻挡膜(A1)。金属阻挡膜(A1)由绝缘膜(6,8)所在侧向着埋入连线(14)所在侧依序叠层形成的金属氧化物膜(11)、迁移层(12a)及金属膜(13)构成;迁移层(12a)由具有金属氧化物膜(11)的组成及含属膜(13)的组成的大体中间组成的单一原子层所构成。
申请公布号 TW200601414 申请公布日期 2006.01.01
申请号 TW094115118 申请日期 2005.05.10
申请人 松下电器产业股份有限公司 发明人 青井信雄;中川秀夫;池田敦
分类号 H01L21/02 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本