COMPOSANT OPTIQUE POUR L'OBSERVATION D'UN ECHANTILLON NANOMETRIQUE, SYSTEME COMPRENANT UN TEL COMPOSANT, PROCEDE D'ANALYSE METTANT EN OEUVRE CE COMPOSANT, ET LEURS APPLICATIONS

摘要

La présente invention concerne un composant optique pour l'observation d'un échantillon, comportant un substrat et au moins une couche d'indice complexe et d'épaisseur prédéterminées, destinée à faire apparaître un contraste élevé d'intensité ou de couleur pour des variations de chemin optique, des reliefs, des épaisseurs et des diamètres nanométriques lorsqu'il est observé par réflexion en lumière incohérente convergente autour de l'incidence normale dans des conditions d'extinction de polarisation caractérisé en ce que la couche d'indice supérieure présente des propriétés de surface spécifiques lui conférant une affinité sélective par rapport à au moins une caractéristique de l'échantillon.L'invention concerne aussi un système d'analyse comprenant un tel composant, un procédé d'analyse mettant en oeuvre ce composant et des applications de ce procédé.