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发明名称 METHOD AND APPARATUS TO DETERMINE SPATIAL DISTRIBUTION OF MAGNITUDE AND PHASE OF ELECTRO ETIC FIELDS ESPECIALLY OPTICAL FIELDS
摘要
申请公布号 CA988737(A) 申请公布日期 1976.05.11
申请号 CA19720154991 申请日期 1972.10.27
申请人 CANADIAN PATENTS AND DEVELOPMENT LIMITED 发明人 SCHMIDT-WEINMAR, HEINZ G.
分类号 G01B9/02;G01J9/02 主分类号 G01B9/02
代理机构 代理人
主权项
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