发明名称 |
Vorrichtung und Verfahren zur entfernungsaufgelösten Bestimmung eines physikalischen Parameters in einer Messumgebung |
摘要 |
Beschrieben wird eine Vorrichtung sowie ein Verfahren zur entfernungsaufgelösten Bestimmung eines physikalischen Parameters in einer Messumgebung unter Nutzung einer zerstörungsfreien Prüftechnik mit wenigstens einem Mikrowellen-Sensor-Paar, das einen ersten und zweiten Mikrowellen-Sensor umfasst, die in einem ersten vorgegebenen Abstand zueinander längs einer gemeinsamen Messebene angeordnet sind und jeweils eine Sende- und Empfangsapertur aufweisen, die innerhalb eines der Messumgebung zugewandten Halbraumes überlappen, einem ortsauflösenden optischen Sensor mit einer zumindest teilweise den Bereich der überlappenden Sende- und Empfangsaperturen des wenigstens einen Mikrowellen-Sensor-Paars erfassenden Sensorapertur, einer Datenerfassungseinheit, die in einer Datenverbindung mit dem wenigstens einen Mikrowellen-Sensor-Paar sowie dem ortsauflösenden optischen Sensor steht, in der Mikrowellen-Sensor-Daten sowie optische Sensordaten erfassbar sind sowie einer Auswerteinheit, in der die erfassten Mikrowellen-Sensor-Daten auf der Grundlage der optischen Sensordaten zur entfernungsaufgelösten Bestimmung des physikalischen Parameters auswertbar sind. |
申请公布号 |
DE102015209578(A1) |
申请公布日期 |
2016.12.01 |
申请号 |
DE201510209578 |
申请日期 |
2015.05.26 |
申请人 |
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. |
发明人 |
Herrmann, Hans-Georg;Sklarczyk, Christoph;Moryson, Ralf;Maisl, Michael;Herrmann de Valliere, Esther |
分类号 |
G01N22/00 |
主分类号 |
G01N22/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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