发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur entfernungsaufgelösten Bestimmung eines physikalischen Parameters in einer Messumgebung
摘要 Beschrieben wird eine Vorrichtung sowie ein Verfahren zur entfernungsaufgelösten Bestimmung eines physikalischen Parameters in einer Messumgebung unter Nutzung einer zerstörungsfreien Prüftechnik mit wenigstens einem Mikrowellen-Sensor-Paar, das einen ersten und zweiten Mikrowellen-Sensor umfasst, die in einem ersten vorgegebenen Abstand zueinander längs einer gemeinsamen Messebene angeordnet sind und jeweils eine Sende- und Empfangsapertur aufweisen, die innerhalb eines der Messumgebung zugewandten Halbraumes überlappen, einem ortsauflösenden optischen Sensor mit einer zumindest teilweise den Bereich der überlappenden Sende- und Empfangsaperturen des wenigstens einen Mikrowellen-Sensor-Paars erfassenden Sensorapertur, einer Datenerfassungseinheit, die in einer Datenverbindung mit dem wenigstens einen Mikrowellen-Sensor-Paar sowie dem ortsauflösenden optischen Sensor steht, in der Mikrowellen-Sensor-Daten sowie optische Sensordaten erfassbar sind sowie einer Auswerteinheit, in der die erfassten Mikrowellen-Sensor-Daten auf der Grundlage der optischen Sensordaten zur entfernungsaufgelösten Bestimmung des physikalischen Parameters auswertbar sind.
申请公布号 DE102015209578(A1) 申请公布日期 2016.12.01
申请号 DE201510209578 申请日期 2015.05.26
申请人 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. 发明人 Herrmann, Hans-Georg;Sklarczyk, Christoph;Moryson, Ralf;Maisl, Michael;Herrmann de Valliere, Esther
分类号 G01N22/00 主分类号 G01N22/00
代理机构 代理人
主权项
地址