发明名称 |
光子を検出する検出デバイス及びそのための方法 |
摘要 |
本発明は、放射線源(2)によって発せられた光子を検出する検出デバイス(6)に係る。検出デバイス(6)は、第1の期間の間に光子を検出するよう構成される。検出デバイス(6)は、光子を電子及び正孔に変換する中間にある直接変換材を備えたセンサ(10)と、成形要素(20)と、補償ユニット(450,INT,950)とを有する。補償ユニット(450,INT,950)は、電気パルスと、センサ(10)の光伝導利得とに基づき、補償信号を供給するよう構成される。本発明の核は、補償電流を検出することによって、ベースライン再生フィードバック信号を検出若しくはモニタリングすることによって、又はベースラインレベルを上回る信号を無視することによって、スペクトル型コンピュータ断層撮影における直接変換型検出器による固有誤差に起因したアーチファクトを低減する回路を提供することである。 |
申请公布号 |
JP2016540208(A) |
申请公布日期 |
2016.12.22 |
申请号 |
JP20160533694 |
申请日期 |
2014.11.20 |
申请人 |
コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKONINKLIJKE PHILIPS N.V. |
发明人 |
デル,ハイナー;ヘルマン,クリストフ;ベルクナー,フランク;ステッドマン ブッカー,ロジャー |
分类号 |
G01T1/17;A61B6/03;G01T1/24 |
主分类号 |
G01T1/17 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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