发明名称 探测表面裂隙之方法
摘要
申请公布号 TW031742 申请公布日期 1980.08.01
申请号 TW06811552 申请日期 1979.07.11
申请人 西屋电器公司 发明人 欧.普莱特玛
分类号 G01D5/12 主分类号 G01D5/12
代理机构 代理人 林敏生 台北巿南京东路二段一二五号七楼伟成第一大楼
主权项 1﹒一种表面测量之方法其以表面移动经过一电磁辐射源之形态并且当其沿一预定长度之扫描线重复扫苗时至少有一感测器用以配接感测从前述表面反射之辐射线。一般来说,此扫描线与前述表面前进之方向成垂直,以便对每一扫描产生一序列之信号此方法之组成特性:将每一前述序列扫描信号分割成许多之试样,在这扫描信号内每一试样能被确认为如其位置一样;将预定数目之前面推论序列扫描信号相同位置之前述试样,结合一起来产生出相同数目之许多位置有关之动力平均値:从一增加之扫描中将其序列扫描信号分割成许多相同数目之增加位置有关之试样;并且将每一前述之增加试样与其相同位置相关联之动力平均比较,来产生对一表面情况指示之信号。2﹒正如在前面请求专利部份第1项内安置之表面测量之方法,其中前述表面是一管子之外表面并且前述之管子同时地以一预定之直线和转速来转动和位移。3﹒正如在前面请求专利部份第1项和第2项内安置之表面测量之方法,其中至少使用二具固定之光检波器用来监测从前述表面之反射线。4﹒正如在前面任何一项之请求专利部份内安置之表面测量之方法,其中电磁辐射来源是一具雷射器,藉以产生一雷射光束并且其中,一声波扫描器被用来扫描从前述雷射器发出之光束。5﹒实际上表面测置之方法正如前面参考之叙述和如其在附图中所表示的一样。
地址 U.S.A.