| 主权项 |
1﹒一种测定具有明显不同磁化率之基底顺磁物质内顺磁添加物含量的方法,包含下列步骤:(a)建立第一及第二单向磁场,两者磁场强度不同且大于1000Oers─ted;(b)在两磁场中分别排置第一及第二感应机构以产生信号用以指示于其邻近移动之物质的磁化率变化;(c)依序在邻近前述第一及第二感应机构处移动前述之物质;(d)处理从前述之第一及第二感应机构所产生之信号,其中该处理包括依照个别预定常数K1及K2调整来自前述第一及第二感应机构之信号大小,并决定由前述物质之相同前移部份所生经调整第一及第二信号之大小差异,藉以提供添加物指示信号,对其每一前移部份指示前述物质之添加物含量。2﹒请求专利部份第1项中方法包括比较前述之添加物指示信号与已知添加物含量之标准物质所得之信号。3﹒一种根据请求专利部份中第1-2项之方法,其中前述之磁体磁强约为1,000至100,000Oersted。4﹒一种根据请求专利部份第1-3项之方法,其中一个磁场强度约为另一个的二倍。5﹒一个根据请求专利部份第1-4项之方法,其中磁场之强度大约10﹒000 OerSted,并由强导磁体提供。6﹒一种根据请求专利部份第1-5项之方法,其中前述之物质以等速穿过紧临着的感应机构。7﹒一种根据请求专利部份第6项之方法,其速度约为每分钟1至100尺。8﹒一种根据请求专利部份第1-7项之方法,其中前述之物质为粉状或丸状。9﹒一种根据请求专利部份第1-8项之方法,其中添加物包含镉。10﹒请求专利部份第1-9项之方法,包括更进一步决定前述之前移部份的前述之物质密度之步骤,而根据前述之密度调整添加物指示信号。11﹒请求专利部份第1-10项之方法、其中前述之处理方法包括根据个别常数K3和K4调整前述之第一及第二感应机构产生之信号大小;并且决定前述物质相同前移部份所生之调整后第一和第二信号大小之和,藉以对其每一前移部份提供一个用以指示前述物质内铁磁杂质之含量的铁磁指示信号。12﹒用以决定长形基底顺磁牲物质元件之顺磁性添加物含量之装置,前述长形基底顺磁性物质元件具有明显小于前述添加物之磁化率,包含:隔开的第一及第二单向磁体,具有轴向对准之孔及提供大于1000Oersted之不同强度磁场;第一及第二感应线圈,分别位于前述磁体之孔中;用以依序将前述元件通过前述第一及第二感应线圈,因而第一及第二信号系由前述线圈响应前述元件前移部份磁化率变化而产生,及用以处理前述信号之机构,包括响应前述元件物质之密度以依照前述元件前述前移部份密度修改前述信号之机构。 |
