发明名称 位准检波电路
摘要
申请公布号 TW051280 申请公布日期 1983.06.16
申请号 TW07222294 申请日期 1981.12.04
申请人 新力股份有限公司 发明人
分类号 H03G11/04;H03K17/10;H03K17/955 主分类号 H03G11/04
代理机构 代理人 郑自添 台北巿敦化南路二段七十七号八楼;陈世雄 台北巿大安区一○六六一敦化南路六九五号八楼
主权项 1.一用来应答一输入信号以产生位准检 波输出信号之位准检波电路中包含: 数个用来将上述输入信号对数地 转换以产生对数转换信号之转换机构; 数个被供给以上述对数转换信号 与至少一个回馈信号以产生应答此等 信号之对数放大信号的放大机构; 数个用来应答上述对数放大信号 以产生积分信号之积分机构; 数个用来将上述对数放大信号供 给至上述积分机构之半导体机构; 数个用来应答上述对数放大信号 与上述积分信号以产生上述之至少一 个回馈信号之回馈机构;以及 数个用来应答上述积分信号以产 生上述位准检波信号之输出机构。2.一依照请求 专利部份第1项之位准检 波电路,其中上述转换机构中包含一 运算放大器,其具有一反相输入与一 输出,且在上述运算放大器之上述反 相输入与上述输出之间具有数个半导 体机构。3.一依照请求专利部份第2项之位准检 波电路,其中上述半导体机构中包含 一二极体。4.一依照请求专利部份第1项之位准检 波电路,其中上述放大机构中包含一 具有被供给上述对数转换信号之非反 相输入以及一被供给上述至少一个回 馈信号之反相输入。5.一依照请求专利部份第1项 之位准检 波电路,其中上述数个半导体机构中 包含数个PN接面机构。6.一依照请求专利部份第1 项之位准检 波电路,其中包含一连接于上述数个 半导体机构与一参考电位间之电容元 件。7.一依照请求专利部份第1项之位准检 波电路,其中上述数个回馈机构中包 含数个用来应答上述对数放大信号与 上述积分信号以产生上述至少一个回 馈信号之分压机构;数个用来将上述 对数放大信号供给至上述分压机构之 第一机构;以及数个用来将上述积分 信号供给至上述分压机构之第二机构。8.一依照 请求专利部份第7项之位准检 波电路,其中上述分压机构包含串联 地连接于上述第一与第二机构之间的 一第一电阻元件以及一第二电阻元件 ,且在上述第一与第二电阻元件间之 接点产生一回馈信号。9.一依照请求专利部份第8 项之位准检 波电路,其中上述接点经由一第三电 阻元件与地连接。10.一依照请求专利部份第8项之 位准检 波电路,其中上述第一机构中包含数 个PN接面机构与第一电压随动器机 构,其连接于上述放大机构与上述第 一电阻元件之间,且上述第二机构中 包含连接于上述数个积分机构与上述 第二电阻元件之间的第二机构。11.一依照请求专 利部份第10项之位准检 波电路,其中上述第一电压随动机构 中包含一运算放大器此运算放大器之 输入经由上述PN接面机构被供给以 上述对数放大信号且具有一将上述对 数放大信号供给至上述第一电阻元件 之输出,且第二电压随动器机构中包 含一具有被供给以上述积分信号之输 入且具有用来将上述积分信号供给至 上述第二电阻元件之运算放大器。12.一依照请求 专利部份第10项之位准检 波电路,其中上述电压随动器机构中 包含一第一电晶体,此电晶体中具有 经由上述PN接面机构被供给以上述 对数放大信号之输入且具有一用来将 上述对数放大信号供给至上述第一电 阻元件之输出,且上述数个第二电压 随动器机构中包含一第二电晶体,其 具有被供给以上述积分信号之输入且 具有一用来将上述积分信号供给至上 述第二电阻元件之输出。13.一依照请求专利部份 第8项之位准检 波电路,其中上述第二电阻元件具有 一第一电阻且上述第一电阻元件具有 一第二电阻,此第二电阻为第一电阻 之(N-1)倍。14.一依照请求专利部份第1项之位准检 波电路,其中上述输出机构中包含数 个被供给以上述积分信号用来应答此 信号以产生上述位准检波输出信号之 第二PN接面机构。15.一依照请求专利部份第14项之 位准检 波电路,其中上述第二PN接面机构 中包含一电阻器与一二极体二者中之 一种。16.一依照请求专利部份第1项之位准检 波电路,其中上述回馈机构产生一第 一回馈信号以及一第二回馈信号且上 述数个放大机构中包含数个被供给以 上述对数转换信号以及上述第一回馈 信号之第一微分放大器机构,数个被 供给以上述对数转换信号与上述第二 回馈信号之第二微分放大器机构以及 数个用来依照上述输入信号之位准以 控制上述第一与第二微分放大器机构 之操作的机构。17.一依照请求专利部份第16项之 位准检 波电路,其中上述数个第一微分放大 器机构中包含第一与第二电晶体,每 一电晶体具有一共同连接于一电源之 射极,上述第一电晶体具有一被供给 以上述对数转换信号之基极且上述第 二电晶体具有一被供给以上述第一回 馈信号之基极,且上述第二微分放大 器机构中包含第三与第四电晶体,其 每一电晶体具有一共同连接于上述电 源之射极,上述第三电晶体具有一被 供给以上述对数转换信号之基极且上 述第四电晶体中具有一被供给以上述 第二回馈信号之基极。18.一依照请求专利部份第 17项之位准检 波电路,其中用来控制之上述数个机 构中包含数个连接于上述电源与上述 第一与第二微分放大器机构之间以用 来依照上述输入信号之位准控制流经 上述第一与第二微分放大器机构之电 流的第三微分放大器机构。19.一依照请求专利部 份第18项之位准检 波电路,其中上述第三微分放大器机 构中包含一第五电晶体,其具有一被 供给以上述对数转换信号之基极,其 射极连接于上述电源且其集极连接于 上述第一与第二电晶体之射极,且包 含一第六电晶体,其基极连接于上述 转换机构之输入,射极连接于上述电 源且集极连接于上述第三与第四电晶 体之射极。20.一依照请求专利部份第16项之位准 检 波电路,其中上述数个回馈机构中包 含数个用来应答上述对数放大信号与 上述积分信号以产生上述第一与第二 回馈信号之分压机构,另包含数个用 来将上述对数放大信号供给至上述数 个分压机构之第一机构以及数个用来 将上述积分信号供给至上述数个分压 机构之第二机构。21.一依照请求专利部份第20项 之位准检 波电路,其中上述数个分压机构中包 含串联地连接于上述第一与第二机构 之间的第一、第二与第三电阻元件, 上述第一回馈信号产生于介于上述第 一与第二电阻元件之接点且上述第二 回馈信号产生于一介于上述第二与第 三电阻元件之间的接点。22.一依照请求专利部份 第21项之位准检 波电路,其中上述数个第一机构中包 含数个PN接面机构以及连接于上述 放大机构与上述第一电阻元件间之第 一电压随动器机构,且上述第二机构 中包含数个连接于上述积分机构与上 述第三电阻元件间之电压随动机构。23.一依照请 求专利部份第22项之位准检 波电路,其中上述数个第一电压随动 器元件中包含一第一电晶体,其具有 一经由上述数个PN接面机构被供给 以上述对数放大信号之输入且具有数 个用来将上述对数放大信号供给至上 述第一电阻元件之输出,且上述数个 第二电压随动器机构中包含一第二电 晶体,其具有一被供给以上述积分信 号之输入且具有一用来将上述积分信 号供给至上述第三电阻元件之输出。
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