发明名称 VERFAHREN ZUR KONTROLLE DER MIKRORAUHIGKEIT VON HALBLEITERSCHEIBEN
摘要
申请公布号 DD161054(A2) 申请公布日期 1984.09.05
申请号 DD19800225711 申请日期 1980.12.04
申请人 VEB WERK F. FERNSEHELEKTRONIK BERLIN,1160 BERLIN, OSTENDSTR. 1-5,DD 发明人 DEHMLOW,RONALD,DD;KRAUSE,RAINER,DD
分类号 H01L21/30;(IPC1-7):H01L21/30 主分类号 H01L21/30
代理机构 代理人
主权项
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