光子計数に基づく放射線結像システム、方法、及びそのデバイス

摘要

本発明は光子計数に基づく放射線結像システムに関し、さらに、当該システムによるX線結像の方法、及びその主要デバイスに関する。当該システムにおいて、X線源から走査ステージ上のサンプルにX線が出射され、X線がサンプルを透過するときに、空間的位置における材料の特徴情報を搬送する光子が発生し、光子計数検出器は、結像平面における光子を計数し、入射光子の投影データとエネルギデータを取得し、三次元再構成システムに伝送する。三次元再構成システムは、投影データ及びエネルギデータに基づき、サンプル内部の三次元構造、及び物質成分種類を再構成し、サンプルの構成部分をデジタル染色することによって、サンプルの物質成分を識別する。