发明名称 卷尺装置
摘要
申请公布号 TW108095 申请公布日期 1989.02.01
申请号 TW077207302 申请日期 1987.11.16
申请人 史丹利公司 发明人 北村义明;后藤钦司
分类号 G01B3/02;G01B7/02 主分类号 G01B3/02
代理机构 代理人 蔡中曾 台北巿敦化南路一段二四五号八楼
主权项 1﹒一种卷尺装置,包括一外壳;一卷尺,此 卷尺可自外壳延伸及沿其上设有位置轨迹 ;设于外壳中之读取装置,在卷尺移动期 间位置轨迹即通过读取装置;第一处理器 装置,此处理器装置以电方式连接至读取 装置,用以自读取装置接收电信号及产生 指示卷尺延伸程度之一输出;目视读出装 置,用以提供代表卷尺延伸程度之一输出 ;目视读出装置,用以提供代表卷尺延伸 程度之目视显示;第二处理器装置,此处 理器装置以电连接至目视读出装置及第一 处理器装置;及选择装置,用以自代替性 并且系预先以程式规划之计算中选定一种 计算;该第二处理器装置适合与该选择装 置相响应,以送出(1)第一操作状态以 使代表真正卷尺延伸程度之一信号通至目 视读出装置,或(2)第二操作状态,在 此状态时条使用早先储存于记忆器中之延 伸値,以其对于代表当时卷尺延伸程度之 后续信号予以运算,及将结果送至目视读 出装置。 2﹒根据申请专利范围第1项所述之卷尺装置 ,其中在第二操作状态时,代表一延伸値 之第二处理器之输出系储存于记忆器中; 此延伸値加于当时之真正卷尺延伸値之上 ;二数値之和送至目视读出装置。 3﹒根据申请专利范围第1项所述之卷尺装置 ,其中位置轨迹系经编码以界定沿卷尺之 绝对位置,位置轨迹系由界定m序列之标 记形成,在此序列中由m个元素构成之各 组仅产生一次,第一处理器装置藉收集对 应于m个连续元素之数値及决定彼等在系 列中之位置而决定卷尺延伸値。 4﹒根据申请专利范围第1项所述之卷尺装置 ,其中第一处理器装置使用固线逻辑以产 生输出状态,及其中第二处理器装置为具 有界定该等操作状态之固件指令之微处理 器。 5﹒根据申请专利范围第1项所述之卷尺装置 ,其中该第二处理器装置亦以电连接至第 一处理器装置以传送输出状态,及经安排 与选择装置之操作相响应,以将当时正存 在之真正卷尺延伸値储存于记忆器中,及 随后决定一后续之真正卷尺延伸値与所储 存之卷尺延伸値相差之整数倍数是否不超 过一预定可容许距离,及于目视读出装置 上显示此关系。 6﹒根据申请专利范围第5项所述之卷尺装置 ,其中第二处理器装置送出一代表真正卷 尺延伸値之信号至目视读出装置。 7﹒根据申请专利范围第5项所述之卷尺装置 ,其中当启动另一选择装置时,第二处理 呈装置将真正卷尺延伸値以2除及将结果 输出至目视读出装置。 8﹒根据申请专利范围第5项所述之卷尺装置 ,其中当启动选择装置时,第二处理器装 置维持送至目视读出装置之当时之延伸値 ,直至第二处理器装置已决定卷尺已自该 延伸値移动至少一预定间隔距离为止。 9﹒根据申请专利范围第1项所述之卷尺装置 ,其中在外壳之一侧上设有一资料位置, 卷尺即自此位置延伸,当产生输出状态时 ,处理器装置即就感测与资料位置之间之 偏差加以考虑而改正自卷读出之资讯,或 者使位置轨迹开始位置以卷尺开始位置为 准而偏移。 10﹒根据申请专利范围第9项所述之卷尺装置 ,其中位置轨迹系经编码以界定沿卷尺之 绝对位置。图示简单说明 图1为根据本创作之方块图; 图2为一流程图,例示以固件型式保存于 一微处理器中之常式,此微处理器形成图1卷 尺装置中之一部份; 图3为一图解,例示形成图1卷尺装置之 一部份之显示装置之连续状态; 图4为根据本创作之卷尺装置外壳之图解 形式之侧视图。
地址 美国