METHOD OF THIN-LAYER CONDENSER CHIPS TESTING,申请号CS19860008257-传众专利搜索

发明名称	METHOD OF THIN-LAYER CONDENSER CHIPS TESTING
摘要
申请公布号	CS267069(B1)	申请公布日期	1990.02.12
申请号	CS19860008257	申请日期	1986.11.14
申请人	MIKLOS PAVEL DOC. RNDR. CSC.,CS;HERMANSKY VOJTECH ING. CSC.,CS;KOPCA MIROSLAV ING. CSC.,CS;RUZINSKA DANKA ING. CSC.,CS	发明人	MIKLOS PAVEL DOC. RNDR. CSC.,CS;HERMANSKY VOJTECH ING. CSC.,CS;KOPCA MIROSLAV ING. CSC.,CS;RUZINSKA DANKA ING. CSC.,CS
分类号	G01R27/26;(IPC1-7):G01R27/26	主分类号	G01R27/26
代理机构		代理人
主权项
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