| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF SOLID STATE IMAGING ELEMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH02128174(A) |
申请公布日期 |
1990.05.16 |
| 申请号 |
JP19880281547 |
申请日期 |
1988.11.08 |
| 申请人 |
TOSHIBA CORP |
发明人 |
EGAWA YOSHITAKA;ENDO YUKIO |
| 分类号 |
G01R31/26;G01M11/00;H01L27/14;H04N5/335;H04N5/341;H04N5/347;H04N5/359;H04N5/369;H04N5/3728;H04N5/378 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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