发明名称 测试数位电路用之积体电路图型分析器
摘要 一种测试数位电路之系统包含一连至该电路中要测试之多个节点之图形(Signature)产生器,图形产生器所产生之图形学为二元资料信号或时脉信号之相同流所特有。一多工器按顺序引导信号流从定之测试节点至图型产生器,或者从多个节点来之资料流可同时被图型化。
申请公布号 TW138367 申请公布日期 1990.07.21
申请号 TW077107446 申请日期 1988.10.27
申请人 安培斯公司 发明人 廉.斯.赫兹;罗勃.安东尼. 廉斯
分类号 G05B1/02 主分类号 G05B1/02
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1﹒一种用以测试数位电子电路之系统,其构成包含:产生器装置,与待测试之电路整合,以产生与二元信号流相同之字组;连结装置,与上述产生器装置连结,以接收来自欲测试之数位电路中若干节点之二进元信号,使得产生器装置可同时被供以来自该若干节点中多于两个之节点之位元流;和比较器和储存装置,用以接收、储存和比较连续产生之图形字组。2﹒一种用以测试在置子数位电路中多个节点处之二进元信号流之稳定性之系统,其构成包含:产生器装置,被连接以同时接收来自至少两个节点之二进元流,且被操作以产生与二进元信号流相同之图形字组;选择器装置,与上述产生器装置连结,以接收来自欲被测试之电路上至少两节点之二进元信号流;比较器装置,接收和比较由产生器装置产生之连续的图形字组;和响应于比较器装置之指示装置,用以指示连续产生之图形字组之间之相同性出现与否。3﹒根据申请专利范围第2项所述之系统,其中产生器装置被连接以同时接收来自至少两个节点之二进元流。4﹒根据申请专利范围第2项所述之系统,尚包括计数器装置,响应于比较器装置以计数由产生器装置产生之连续的相同图形字组之数目。5﹒根据申请专利范围第2项所述之系统,其中连接装置包含一多工器装置,此多工器装置接收来自节点之位元流,并接着将此位元流导引至产生器装置。6﹒一种用以侦测在数位电子电路中之计时信号流之计时时段的稳定性之系统,其构成包含:产生器装置,连接于一测试中之电路的节点,以产生与计时信号相同边缘流相同之图形字组;比较器装置,连结于上述产生器装置,以比较由产生器装置产生之连续的图形字组;和连接于比较器装置之指示装置,用以指示连续产生的图形字组之间缺乏相同性,并因而用以指示计时周期是否稳定。7﹒根据申请专利范围第6项之系统,尚包括记忆器装置,此记忆器装置储存图形字组,以与由图形产生装置产生之图形字组比较。,8﹒一种以一整合图型分析器测试数位置子电路之程序,包含下列步骤:从要测试之多个节点,引导同时之一进元资料流至二图型产生器;产生与相同二进元信号流相同之图形字组将产生之图形字与储存于一记忆器装置之图形字组比较;比较连续产生的图形字组;和指示所比较之图形字组间之相同与否。9﹒根据申请专利范围第8项所述之程序,包括计算相同之连续产生的图形字组的数目之步骤。10﹒根据申请专利范围第8项所述之程序,其中在指示两连续图形字组不同之后,二进元资料流乃被从待测试之节点依序按先后引导至图形分析器。11﹒根据申请专利范围第8项所述之程序,包括以下之步骤:从与测试中之电路为同一种而操作良好之电路之节点取得图型字组,以及将取得之图形字组储存于一外部记忆装置。12﹒一种用来测试数位电子电路中计时时段之稳定性之程序,其构成包含以下之步骤引导计时流至一图型分析器;产生相同计时流所独有之图型字;比较连续产生之图型字;表示连续图型字间之相同与否。13﹒根据申请专利范围第12项所述之程序,更包含将产生图型字和来自与测试中之电路同一种而操件良好之电路之图型字作比较之步骤。14﹒一种用以测试数位电子电路之系统,其构成包含:产生器装置,与欲测试之电路整合,且选挥性地连接以产生响应于计时信号边缘之图形字组,组字组系与相同之二进元信号流相同;连结装置,连结于上述产生器装置,以接收来自欲测试之数位电路之若干个节点处的二进元信号;和比较器装置,被连结以接收和将由比较器装置产生之图形字组与储存之图形字组比较,以指示用于测试之电路之计时时段之稳定性。图示简单说明图1乃根据本发明之一系统之一般化功能图;图2乃图1系统一部份之一功能图;图3乃使用于图1及2系统中一资料压缩演算之概图;图4乃图3资料压缩演算之一变通实施例之简图;图5乃图3资料压缩演算之另一实施例之一简图;图6乃根据本发明之一系统之一般化功能图;图7为配合本发明使用之一辅助系统之一功能图。
地址 美国