| 主权项 |
1.一种以分别高于和低于固定基准电压位准之两独立临限位准之施加交流电压侦测交越点之电路装置包括:直流电源,供应与基准电压相对有固定量値之直流电源电压,电性经路伸展于施加交流电压与直流电源电压之间,此经路包括电阻之串联组合,具有两可能逻辑输出状态之第一电压比较器,相连接而使两电阻接合点上之电压与直流电源电压相比较,因此,第一电压比较器在任一时刻之逻辑输出状态,系由接合点上与直流电源电压相对之电压所决定,具有两可能逻辑输出状态之第二电压比较器,相连接而使两电阻接合点上之电压与基准电压相比较,因此,第二电压比较器在任一时刻之逻辑输出状态,系由接合点上与基准电压相对之电压所决定,以及逻辑装置第一比较器之逻辑输出状态与第二比较器之逻辑输出状态依逻辑方式在其中相组合,从而产生由有固定基准电压之施加交流电压垮越交越点之每一时刻之脉冲,此脉冲之前缘和后缘分别与为有两独立临限位准之施加交流电压所交越各时刻相对应,且其一临限位准系由直流电压量値所决定,而另一临限位准则系由两电阻之电阻値与直流电源电压之比率所决定。2.根据申请专利范围第1项之电路装置,其中,各该电阻彼此相对之比例,跨越每一支越时刻之每一脉冲中点大体上与有固定基准电压之施加交流电压之交越时刻相一致。3.根据申请专利范围第1或2项之电路装置,其中所述之固定基准电压为0电压。4.根据申请专利范围第1或2项之电路装置,其第一电压比较器包括有第一电晶体,其基射极经路连接于直流电源电压与所述之串联组合之一端之间,从而构成所述电经路之一部份,以及第二电压比较器,包括有传导类型与第一电晶体相反之第二电晶体,其基射极经路系经由一所述基准电压与所述之两电阻接合点之间之隔离装置而相连接。5.根据申请专利范围第1或2项之电路装置,其中所述之电阻之一具有对电流特性呈非线性之电压。6.根据申请专利范围第5项之电路装置,其中所述具有对电流特性呈非线性之电压之置阻系出电路元件网路所组成。7.根据申请专利范围第1或2项之电路装置,其中所述之直流电源电压系以两电阻接合点上电座经过整流而衍生者。图示简单说明:图1为根据本发明之电路装置概略方块图。图2所示为与图1电路装置运作相关之各种波形。图3为根据本发明之另一电路装置之概略方块图。图4所示为与图3电路装置运作相关之各种波形。图5为根据本发明之又一电路装置之电路图。图6所示为图5电路装置运作相关之各种波形。图7为根据本发明之又另一电路装置之电路图。图8所示电路图中,所述之串联组合各电阻中其一系由电路元件网路所组成。图9所示为图8电路装置运作相关之各项波形。 |
