| 摘要 |
<p>Leiterplattenprüfgerät, mit einer Vielzahl von in der Kontaktfeldebene (2) des Gerätes angeordneten Kontaktpunkten (4), die an eine elektronische Ansteuerungs- und Meßvorrichtung angeschlossen sind und über in Längsrichtung starre Prüfstifte (6) mit den Kontaktpunkten der zu prüfenden Verdrahtungsträger/Leiterplatten (8) verbindbar sind, wobei die Kontaktpunkte im Leiterplattenprüfgerät federnd gelagert und gegen den aufzubringenden Kontaktdruck abgestützt sind, wobei die Kontaktpunkte (4) als elektrisch leitende Druckfedern (28) ausgebildet sind, die in Bohrungen (25) eines Federkontaktfeldkörpers (26) aus elektrisch isolierendem Material angeordnet sind und auf denen die starren Prüfstifte (6) direkt abgestützt sind. Die Erfindung sieht vor, daß der Federkontaktfeldkörper (26) aus anreihbaren, zusammenfügbaren Segmenten aufgebaut ist, und daß Bereiche unterschiedlicher Anschlußdichte von Kontaktpunkten (4) in der Kontaktfeldebene (2) vorhanden sind, wobei die Bereiche je nach den Anforderungen der zu prüfenden Leiterplatte (8) untereinander austauschbar sind.</p> |
