发明名称 MEASURING METHOD FOR IMPURITY OF SEMICONDUCTOR SURFACE
摘要
申请公布号 JPH0448628(A) 申请公布日期 1992.02.18
申请号 JP19900155693 申请日期 1990.06.14
申请人 HITACHI LTD 发明人 SHIMIZU HIROBUMI;MUNAKATA TADASUKE;MATSUZAKI TORU;MATSUO HIROOMI
分类号 H01L21/304;H01L21/66 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人
主权项
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