| 主权项 |
1.一种用以非破坏性测定一物件随温度而定之尺寸变化之方法,包括:(a)以穿透性辐射线沿多个径路上定期扫描该物件之一横断面;(b)定期感测该物件之温度,并产生代表该物件温度之温度信号;(c)产生代表沿多个径路之每一个上之辐射线衰减量之电信号;(d)变换代表衰减之穿透性辐射线信号之电信号为代表沿多个径路之每一个上之物件之密度/长度之信号;(e)由使用受检查之物件之电脑模型,处理密度/长度信号,以测定该物件之一横断面之尺寸量度値;(f)处理该温度信号,以产生与每一尺寸量度値相对应之一温度;(g)使该物件连续增加及/或降低温度,以获取在不同温度上之量度値;及(h)定期重覆步骤(a)至(g),俾获取在所需温度范围中之各量度値。2.如申请专利范围第1项所述之方法,另包括:产生该物件之每一尺寸之温度对尺寸资料之一间形代表。3.如申请专利范围第1项所述之方法,另包括:产生该物件之每一尺寸之随温度而定之尺寸资料之一模型。4.如申请专利范围第1项所述之方法,其中:该物件为有规则几何之形状。5.如申请专利范围第4项所述之方法,另包括:产生该物件之每一尺寸之温度对尺寸资料之图形代表。6.如申请专利范围第4项所述之方法,另包括:产生该物件之每一尺寸之随温度而定之尺寸资料之一横型。7.如申请专利范围第4项所述之方法,其中:(a)该有规则几何形状之物件为圆筒形;及(b)使用电脑模型所测定之尺寸包含外直径及真圆性。8.如申请专利范围第7项所述之方法,另包括:产生该物件之每一尺寸之温度对尺寸资料之图形代表。9.如申请专利范围第7项所述之方法,另包括:产生该物件之每一尺寸之随温度而定之尺寸资料之模型。10.如申请专利范围第7项所述之方法,其中:(a)该几何形状之物体为管形;及(b)使用电脑模型测定之尺寸且包括内直径,壁厚,及偏心率。11.如申请专利范围第10项所述之方法,另包括:产生该物件之每一尺夬寸之温度对尺寸资料之图形代表。12.如申请专利范围第10项所述之方法,另包括:产生该物件之每一尺寸之随温度而定之尺寸资料之一模型。13.一种用以非破坏性测定一物件之随温度而定之尺寸变化之装备,包含:(a)用以由穿透性辐射线沿多个径路上定期扫描该物件之一横断面之装置;(b)用以定期量度该物件之温度之装置;(c)用以产生代表沿该多个径路之每一个上之辐射线衰减量之电信号之装置;(d)用以变换代表衰减之穿透性辐射线信号之电信号为代表沿该多个径路之每一个上之物件之密度/长度之信号之装置;及(e)受检查之物件之一电脑模型及处理装置,用以测定该物件之一横断面之尺寸量度値。14.如申请专利范围第13项所述之装备,另包含:用以产生该物件之每一尺寸之温度对尺寸资料之图形代表之装置。15.如申请专利范围第13项所述之装备,另包含:处理装置,用以产生该物件之每一尺寸之随温度而定之尺寸资料之一模型。16.一种用以对特定一批原始材料校准一程序控制系统之方砝,该系统根据在升高或降低之温度上所制之产品之量度値执行其程序控制计算:(a)制备该批材料在其将由程序控制系统量度时之形状及温度上之样品;(b)固定该样品,碑可由穿透性辐射线沿多个径路上定期扫描该物件之一横断面;(c)定期扫描该物件之温度,并产生代表物件温度之温度信号;(d)产生9代表沿多个径路之每一个上之辐射线衰减量之电信号;(e)变换代表衰减之穿透性辐射线信号之电信号为代表沿多个径路之每一个上之该物件之密度/长度之信号;(f)由使用受检查之物件之电脑模型,处理密度/长度仩信号,以测定该物件之一横断面之尺寸量度値;(g)处理该温度信号,以产生与每一尺寸量度値相对应之一温度;(h)使该物件连续增加或降低温度至所需温度;(i)定期重覆步骤(b)至(h),以获取在所需温度范围中之量度値;(j)产生该物件之每一尺寸之随温度而定之尺寸资料之一模型;及(k)转移所产生之随温度而定之尺寸资料之横型至程序控制系统,俾用于其计算中。 |
