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Ein Verfahren zum Durchführen eines elektromagnetischen Tests an einer elektronischen, zu testenden Vorrichtung (DUT), wobei die Methode folgendes umfasst: Einfügen der DUT in eine Schaltung, die folgendes umfasst: Eine kontrollierte Stromquelle, wobei die kontrollierte Stromquelle einen Ausgangsstrom aufweist, und wobei die Stromquelle in Serie mit der DUT geschalten ist; und einen Spannungsbegrenzer, der in Parallelschaltung mit der DUT verbundenen ist, wobei der Spannungsbegrenzer dadurch gekennzeichnet ist, dass, wenn der Ausgangsstrom derart ist, dass die Spannung über die DUT (Vdut) eine bestimmte Maximalspannung Vmax überschreitet, bei eingesetztem Spannungsbegrenzer, wenigstens ein Anteil des Ausgangsstroms durch den Spannungsbegrenzer fließt, und ein weiterer Anteil des Ausgangsstroms durch die zu testende Vorrichtung (DUT) weiterhin fließt, so dass Vdut derart begrenzt ist, dass sie ≤ Vmax ist; und wenn der Ausgangsstrom derart ist, dass Vdut ≤ Vmax ist, kein Strom durch den Spannungsbegrenzer fließt, und wobei der Spannungsbegrenzer durch eine Übergangsregion, die um Vmax für die DUT liegt, derart gekennzeichnet ist, dass, wenn die Spannung für die DUT Vmax erreicht und überschreitet, der Anteil des Ausgangsstroms, der durch den Spannungsbegrenzer fließt, allmählich zunimmt, um entsprechend ein allmähliches Absenken des weiteren Anteils des Ausgangsstroms durch die DUT zu verursachen. |
