| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR ELEMENT TESTING WIRING BOARD AND SEMICONDUCTOR ELEMENT TESTING METHOD USING SAME |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH065669(A) |
申请公布日期 |
1994.01.14 |
| 申请号 |
JP19920159173 |
申请日期 |
1992.06.18 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
UMEDA SHINJI;HATADA KENZO;FUJIMOTO HIROAKI |
| 分类号 |
G01R1/073;G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R1/073 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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