发明名称 可增进掌上型扫瞄器之扫瞄对齐准确率之结构
摘要 本创作系提供一种可增进掌上型扫瞄器之扫瞄对齐准确率之结构,尤指一种于扫瞄器本体之容置槽内可承接一测量单元,利用测量单元突出于扫瞄器本体前方,以便藉扫瞄单元之刻度作扫瞄物扫瞄宽度之测量并可保持扫瞄对齐准确度,及藉盖板盖合于扫瞄缺槽上以达防尘之效果之新型创作者。
申请公布号 TW238759 申请公布日期 1995.01.11
申请号 TW083210656 申请日期 1994.07.23
申请人 伍佰科技企业股份有限公司 发明人 郑国书
分类号 G06K9/74 主分类号 G06K9/74
代理机构 代理人 樊贞松 台北巿和平东路二段一○○号八楼之六
主权项 1.一种可增进掌上型扫瞄器之扫瞄对齐准确率之结构,尤指一种于扫瞄器本体之容置槽内可承接一测量单元,利用测量单元突出于扫瞄器本体前方,以便藉扫瞄单元之刻度作扫瞄物扫瞄宽度之测量并可保持扫瞄对齐准确度之结构者。2.如申请专利范围1所述之可增进掌上型扫瞄器之扫瞄对齐法确率之结构,其中测量单元于二侧设有突起,可便于测量单元容置于容置槽时作为定位之用者。3.如申请专利范围1所述之可增进掌上型扫瞄器之扫瞄对齐法确率之结构,其中容置槽于二侧亦可设置成卡槽,使测量单元可直接由容置槽向外拉出,并藉测量单元直接作量测之目的者。4.如申请专利范围1所述之可增进掌上型扫瞄器之扫瞄对齐法确率之结构,其中测量单元外掀,使测量单元与扫瞄器本体之底面呈同一水平面时。5.如申请专利范围1所述之可增进掌上型扫瞄器之扫瞄对齐法确率之结构,其中容置槽中固定一测量单元,并令测量单元部份凸出于扫瞄器本体1外,而直接使用并作量测及对齐工作者。6.如申请专利范围1所述之可增进掌上型扫瞄器之扫瞄对齐法确率之结构,其中扫瞄器本体亦可于二外侧形成凹孔,藉凹孔与测量单元之凸轴配合,以便测量单位直接作测量之目的者。7.如申请专利范围1所述之可增进掌上型扫瞄器之扫瞄对齐法确率之结构,其中扫瞄器本体于扫瞄缺槽上方设一盖板,藉盖板之盖合令缺槽具有防尘之效果者。第一图系本创作之立体分解图。第二图系本创作之立体组合图。第三图系本创作之实施例图(一)。第四图系本创作之实施例图(二)。第五图系本创作之实施例图(三)。第六图系本创作之实施例图(四)。第七图系本创作于作扫瞄之实施例图。
地址 台北县新店巿民权路一○八号六楼