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发明名称 TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号 KR950004599(Y1) 申请公布日期 1995.06.10
申请号 KR19910017113U 申请日期 1991.10.15
申请人 GOLDSTAR ELECTRON CO., LTD. 发明人 BAEK, YONG - SANG
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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