发明名称 Verfahren und Vorrichtung zum internen Paralleltest von Halbleiterspeichern.
摘要
申请公布号 DE58909354(D1) 申请公布日期 1995.08.24
申请号 DE19895009354 申请日期 1989.05.31
申请人 SIEMENS AG, 80333 MUENCHEN, DE 发明人 MATTES, HEINZ, DR., DIPL.-ING., D-8000 MUENCHEN, DE
分类号 G01R31/28;G11C29/10;G11C29/28;H01L21/66;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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