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发明名称 Kontaktstiftelektronik-Einrichtung mit Phasenjustierung für einen IC-Tester und Verfahren zur Phasenjustierung.
摘要
申请公布号 DE68924744(D1) 申请公布日期 1995.12.14
申请号 DE19896024744 申请日期 1989.08.28
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 YOSHIDA, KENJI, GYODA-SHI SAITAMA, JP
分类号 G01R31/28;G01R31/319;(IPC1-7):G06F11/26 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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