| 发明名称 |
PROBE AND ITS MANUFACTURE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0954103(A) |
申请公布日期 |
1997.02.25 |
| 申请号 |
JP19960147475 |
申请日期 |
1996.06.10 |
| 申请人 |
NIKON CORP |
发明人 |
OKIGUCHI KEIKO;OSAWA HISAO |
| 分类号 |
G01B21/30;G01N37/00;G01Q60/00;G01Q60/20;G01Q60/22;G01Q60/24;H01J37/28;(IPC1-7):G01N37/00 |
主分类号 |
G01B21/30 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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