发明名称 红外线气体分析器与方法
摘要 一种红外线气体分析器与方法使用一光路径,其包括一红外线光源,一包含此将被分析之气体的取样室,一红外线感测器和一红外线滤波器,不论有多少气体要分析。此带有一滤波器的一光路径藉由量测气体,用以决定红外线光源输出和红外线吸收二者。
申请公布号 TW314594 申请公布日期 1997.09.01
申请号 TW084109828 申请日期 1995.09.19
申请人 马克迪电子公司 发明人 詹姆斯.E.格拉罕
分类号 G01N21/00 主分类号 G01N21/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种气体分析器,包含:一红外线能量源;一感测器以侦测来自该光源之红外线能量,该红外线能量在一光路径上之该光源和该感测器之间移动;在该光路径中的一试料室包含一被分析之气体混合物;至少二个参考室支持以选择的放置在该光路径中;在该光路径中的一红外线滤波器;该感测器产生一信号表示能量维持当每一该参考室在该光路径中;以及信号处理装置连接至该感测器以产生在该试料室中至少一预定气体之浓度的输出表示。2.根据申请专利范围第1项之气体分析器,其中该滤波器是一宽带滤波器能够通过有兴趣的气体频谱和在有兴趣之气体频谱之每一边上的额外频谱。3.根据申请专利范围第1项之气体分析器,更包括一可旋转的框架以支持该参考室使该参考室选择性地放入该光路径中。4.根据申请专利范围第3项之气体分析器,更包括一马达连接至该框架以旋转该框架。5.一种用以分析对于一有兴趣之气体之一试料之方法,包含步骤:(a)提供一由一红外线光源产生之红外线能量的路径;(b)在该路径中放入一包含被分析之试料的试料室;(c)在该路径中选择性地放入至少二参考室,每一参考室包含一已知量的预定气体;(d)红外线能量通过一单一的红外线滤波器,其通过比有兴趣之气体的吸收频谱大的频宽;(e)侦测通过该试料室后剩余的红外线能量;(f)产生一电子信号表示该侦测的剩余能量;(g)在该路径中放入该至少二参考室的其他的并重复步骤(d)-(f);以及(h)处理该电子信号以决定是否及什麽有兴趣之气体的浓度出现在试料中。6.根据申请专利范围第5项用以分析对于一有兴趣之气体之一试料之方法,其中步骤(b)的试料室是在路径中步骤(c)之至少二参考室的下游,且步骤(d)的滤波器是在路径中步骤(b)之试料室的下游。7.一种用以分析多种气体之试料之方法,包含步骤:(a)提供一由一红外线光源产生之红外线能量的路径;(b)在该路径中放入一包含被分析之试料的试料室;(c)在该路径中选择性地放入若干参考室,每一参考室包含一已知量的预定气体;(d)红外线能量通过一单一的红外线滤波器,其通过比此多种气体之吸收频谱大的频宽;(e)侦测通过该试料室后剩余的红外线能量;(f)产生一电子信号表示该侦测的剩余能量;(g)在该路径中放入该若干参考室之其他的并重复步骤(d)-(f);以及(h)处理该电子信号以决定是否及什麽此多种气体的浓度出现在此试料中。8.根据申请专利范围第7项用以分析多种气体之试料之方法,其中在步骤(c)中的若干参考室等于此被分析之多种气体的数目多一个。9.根据申请专利范围第7项用以分析多种气体之试料之方法,其中步骤(b)的试料室是在路径中步骤(c)之若干参考室的下游,且步骤(d)的滤波器是在路径中步骤(b)之试料室的下游。10.一种分析待测气体之气体混合物之方法,包括如下步骤:(a)由一红外线光源产生一红外线射束;(b)将一含有该气体混合物之试料室定位于该射束中;(c)将一红外线滤波器定位于该射束中,该滤波器可使一较该等待测气体之吸收频谱为宽的能量通过;(d)于该射束通过该试料室及滤波器后,检测剩余之红外线能量;(e)依据步骤(d)所检测出之能量来决定该红外线光源功率输出;(f)将多个参考室定位于该射束中,每一参考室皆充满一已知量的预定气体;(g)于该射束通过该试料室、参考室及滤波器后,检测剩余之红外线能量;(h)产生一代表步骤(g)中所检测出之剩余能量之信号;(i)将该多个参考室之其余参考室一次一个定位于该射束路径上,并重覆步骤(g)-(h);以及(j)使用负滤波以及步骤(h)所产生之信号与步骤(e)之红外线光源功率输出来决定该等待测气体之存在与浓度。11.一种分析一待测气体之气体混合物之方法,包括如下步骤:(a)由一红外线光源产生一红外线射束;(b)将一含有该气体混合物之试料室定位于该射束中;(c)将一红外线滤波器定位于该射束中,该滤波器可使该待测气体之吸收频谱通过,另可使两边带能量通过;(d)利用该等边带来决定该红外线光源功率输出;(e)将多个参考室定位于该射束中,每一参考室皆充满一已知量的预定气体;(f)于该射束通过该试料室、滤波器及每一参考室后,检测该射束之红外线能量的位准;以及(g)处理步骤(f)所检测出之位准以及该红外线光源功率输出以决定该待测气体之存在及浓度。图示简单说明:图一为一具体表现本发明之分析器的爆炸图;和图二为一包括具体表现本发明之三个分析器之一单元的爆炸图。
地址 美国