| 主权项 |
1.一种驱动IC之输出电阻测定器,用以测定具有多数输出销之驱动IC的DUT(10)之直流特性的输出电阻测定器中,其特征在于具备有:高速扫描器(16),具有分别连接于DUT(10)之各输出销OUTi之输入端子;电压测定器(17),用以依顺序测定上述高速扫描器(16)之各输入端子的电压;及程式负载PL(20i)群,分别设置于上述DUT(10)之各输出销OUTi与上述高速扫描器(16)之各输入端子之间,可设定阈电压比DUT(10)之输出电压更高电压固定电压之阈电压源VT1群,及可设定更低电压固定电压之阈电压源VT2群之2系统电压。2.如申请专利范围第1项之驱动IC之输出电阻测定器,其中,该程式负载PL(20i)群,系阈电压源VT1及VT2交替配列于OUT10之各输出销OUTi的配列顺序之2系统之程式负载PL(20i)群者。3.如申请专利范围第1项之驱动IC之输出电阻测定器,其中,该程式负载PL(20i)群,系具有定电流源ILL及ILH输出电流不同之2系统(ILL1.ILH1及ILL2.ILH2)以上之定电流源的程式负载PL(20i)群者。4.一种驱动IC之输出电阻测定方法,系用以测定具有多数输出销之驱动IC的DUT(10)之直流特性,其特征在于:首先,将阈电压比DUT之输出电压更高VT1固定电压,设定于程式负载用,(步骤101)其次,将阈电压比DUT之输出电压更低VT2固定电压,设定于程式负载用,(步骤102)接着,在注目销连接VT1之PL,而在其他销任意连接VT2及VT1,但,使VT1群之总数,与VT2群之总数一致,在该状态下,测定注目销之输出电阻,(步骤103)其次,在注目销连接VT2之PL,而在其他销任意连接VT1及VT2,但,使VT2群之总数,与VT1群之总数一致,在该状态下,测定注目销之输出电阻,(步骤104)接着,将注目销分配变更于其他销,用以测定上述步骤(103-104),并将此重复,对于全注目销进行输出电阻之测定,(步骤105)依据上述之步骤,在DUT(10)中,在输入固定负荷电流与输出固定负荷电流在同量之状态下,测定驱动IC之输出电阻者。5.一种驱动IC之输出电阻测定方法,系用以测定具有多数输出销之驱动IC的DUT(10)之直流特性,其特征在于:首先,将阈电压比DUT之输出电压更高VT1固定电压设定于DC测定装置,(步骤201)其次,将阈电压比DUT之输出电压更低VT2固定电压设定于DC测定装置,(步骤202)接着,在注目销连接VT1,而在其他销任意连接VT2及VT1,但,使VT1群之总数,与VT2群之总数一致,在该状态下,测定注目销之输出电阻,(步骤203)其次,在注目销连接VT2,而在其他销任意连接VT1及VT2,但,使VT2群之总数,与VT1群之总数一致,在该状态下,测定注目销之输出电阻,(步骤204)接着,将注目销分配变更于其他销,用以测定上述步骤(203-204),并将此重复,对于全注目销进行输出电阻之测定,(步骤205)依据上述之步骤,在DUT(10)中,在输入固定负荷电流与输出固定负荷电流在同量之状态下,测定驱动IC之输出电阻者。图示简单说明:第一图系本发明之一实施例的构成图。第二图系本发明之其他实施例的构成图。第三图系为了说明DUT之一例的DUT10外观图。第四A到四D图系为了测定习知之DUT10的输出电阻之构成图。第五图系PL20之一例构成图。第六图系显示藉由本发明测定方法之一实施例流程图。第七图系显示藉由本发明其他测定方法之一实施例流程图。 |
