| 主权项 |
1.一种测试电路之装置,用以测试一积体电路,至少包括:一侧试资料产生器,至少具有一输出埠及一输入埠;一驱动放大器,至少具有一第一输入端与一第一输出端,其中该第一输入端耦接该输出埠;一第一开关,至少具有一第一端与一第二端,其中该第一端耦接该第一输出端,该第二端耦接该积体电路输入/输出埠;一第二开关,至少具有一第三端与一第四端,其中该第三端耦接该积体电路输入/输出埠;一比较放大器,至少具有一第二输入端与一第二输出端,其中该第二输入端耦接该第四端,该第二输出端耦接该输入埠;一继电器,具有一第五端与一第六端,其中该第五端耦接该第三端;以及一负载电路,耦接该第六端。2.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该继电器为"on"。3.如申请专利范围第1或2项所述之装置,其中该装置于写入状态时,该第一开关为"on"且该第二开关为"off"。4.如申请专利范围第1或2项所述之装置,其中该装置于读出状态时,该第一开关为"off "且该第二开关为"on"。5.如申请专利范围第1或2项所述之装置,其中该装置于写入状态时,该第二开关为"off "的动作时间比第一开关"on"的动作时间慢一预定之时间。图示简单说明:第一图是习知一种测试电路之装置示意图;以及第二图是依照本创作一较佳实施例的一种测试电路之装置示意图。 |
