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发明名称 Verfahren und Gerät zur Prüfung von Leiterplatten mit gesteuerter Rückspeisungsbelastung
摘要
申请公布号 DE69030755(T2) 申请公布日期 1997.10.09
申请号 DE19906030755T 申请日期 1990.08.27
申请人 GENRAD INC., CONCORD, MASS., US 发明人 SWANSON, MARK A., ARLINGTON, MA 02174, US
分类号 G01R31/28;G01R31/30;G01R31/319;(IPC1-7):G06F11/22;G06F11/26 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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