确定多层电路板各绝缘层介电常数和损耗系数的方法

摘要

采用制作在电路板上或在电路板中的若干试验结构在MHz至GHz测量频率范围内确定电路板各绝缘层介电常数和/或损耗系数的方法,其中,作为试验结构在电路板(1)上或在电路中至少制作一个试验谐振器(R),对每一个试验谐振器(e)在其谐振频率(f_R)所在的频带内确定此谐振频率,然后在此谐振频率上确定测量点的阻抗(Z_R),最后由每个试验谐振器(R)给定的几何尺寸和谐振频率的特定值以及阻抗的实部通过传输方程计算介电常数和/或损耗系数。

主权项

1.采用制作在电路板上或在电路板中的试验结构在MHz至GHz测量频率范围确定电路板各绝缘层介电常数和/或损耗系数的方法，其特征在于，至少有一个试验谐振器作为试验结构作在电路板上或电路板中，此谐振器以平面微波传输线形成，具有给定的几何尺寸和至少一个测量点的给定的位置，对于每一个试验谐振器在其谐振频率(fR)所在的频带内确定其谐振频率并且在此谐振频率上确定测量点的阻抗(ER)，最后由每一个试验谐振器给定的几何尺寸和谐振频率的特定值以及阻抗的实部通过传输方程计算出介电常数和/或损耗系数。