发明名称 |
Clock generation for testing of integrated circuits |
摘要 |
In an integrated circuit, a clock to simulate the circuit's normal operation is generated from the JTAG clock input TCK.
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申请公布号 |
US5805608(A) |
申请公布日期 |
1998.09.08 |
申请号 |
US19960733908 |
申请日期 |
1996.10.18 |
申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
BAEG, SANGHYEON;YU, EDWARD |
分类号 |
G01R31/28;G06F1/04;G06F11/22;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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