发明名称 具位址转换侦测器半导体记忆装置之写入路径控制方法
摘要 本发明揭示一种半导体记忆装置之写入路径控制方法,包括下列步骤:经由连接至一对资料输入/输出(I/O)线的感测放大器感测并放大来自复数记忆单元的资料;藉由与该对资料I/O线连接的资料线驱动器写入该资料;以及藉由一位址传输侦测器侦测一位址传输而执行读取或写入运作。该位址传输侦测器只有在写入周期中被致能以便控制将该资料写入该等记忆单元的时间。尤其是,当行位址讯号的设定时间位于写入周期中行位址触发讯号CASB的下降时间之后,位址传输侦测器ATD工作以便控制致能写入驱动致能讯号ψWDE。
申请公布号 TW344048 申请公布日期 1998.11.01
申请号 TW085114866 申请日期 1996.12.02
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 柳济焕
分类号 G06F12/00 主分类号 G06F12/00
代理机构 代理人 蔡清福 台北巿忠孝东路一段一七六号九楼
主权项 1.一种半导体记忆装置之写入路径控制方法,包括下列步骤:经由连接至一对资料输入/输出(I/O)线的感测放大器感测并放大来自复数记忆单元的资料;藉由与该对资料I/O线连接的资料线驱动器写入该资料;以及藉由一位址传输侦测器侦测一位址传输而执行读取或写入运作,其中该位址传输侦测器只有在写入周期中被致能以便控制将该资料写入该等记忆单元的时间。2.一种半导体记忆装置之写入路径控制方法,包括下列步骤:经由连接至一对资料输入/输出(I/O)线的感测放大器感测并放大来自复数记忆单元的资料;藉由与该对资料I/O线连接的资料线驱动器写入该资料;以及藉由一位址传输侦测器侦测一位址传输而执行读取或写入运作,其中该位址传输侦测器只有在写入周期中被致能以便做为该资料线驱动器之控制讯号。3.一种半导体记忆装置之写入路径控制方法,包括下列步骤:经由连接至一对资料输入/输出(I/O)线的感测放大器感测并放大来自复数记忆单元的资料;藉由与该对资料I/O线连接的资料线驱动器写入该资料;以及藉由一位址传输侦测器侦测一位址传输而执行读取或写入运作,其中该位址传输侦测器只有在写入周期的负状况下的位址设定时间被致能,以便做为该资料线驱动器之控制讯号。图式简单说明:第一图系习知动态RAM的资料路径方块图;第二图A系习知写入驱动器之细部方块图;第二图B系习知输入/输出(I/O)感测放大器及微分电压感测放大器的方块图;第三图系习知技术的写入运作时序图;第四图A系习知位址传输脉波(ATP)产生器之细部电路图;第四图B系习知位址传输讯号产生器之细部电路图;第五图系本发明写入驱动器致能讯号产生器之一较佳实施例细部电路图;以及第六图系本发明写入运作之时序图。
地址 韩国