| 主权项 |
1.一种同步检测装置,该同步检测装置以一试剂利用样本之物理性可检测反应,检测样本中一分析物存在,该装置包含:一组测试片,其中每一测试片上包含被处理之该试剂,每组包含至少一测试片;一校准装置,相应于该组测试片,并包含独有特征于该测试片组中之试剂之校准讯息;一外壳,具有一用以啮合至少测试片之一的船坞部份;一感应器,至少部分置于该外壳中,且适用于产生一回应于样本与试剂之反应之电信号;以及一处理器,至少部分置于外壳中,且适用于与校准装置一致地操作以产生一表示样本中分析物存在之检测信号。2.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中同步检测装置系适用于使用一与整组测试片数目相关之预定次数,该预定次数由处理器列表,该处理器可使使用预定次数后之检测装置失效。3.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中处理器系适用于使使用预定日期后之同步检测装置失效。4.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中校准装量包括一具有电信号对检测信号相关性之相关讯息的晶片。5.如申请专利范围第4项之同步检测装置,其中同步检测装置系适用于与复数该晶片一起使用,每一晶片与一关联的测试片组一致且适用于与外壳非接触性连结。6.如申请专利范围第4项之同步检测装置,其中相关讯息系根据预定之数学函数。7.如申请专利范围第4项之同步检测装置,其中相关讯息系根据对照表。8.如申请专利范围第5项之同步检测装置,其中每一晶片系适用于与关联组测试片数目一致之预定使用次数,该预定次数由处理器列表,该处理器使晶片在预定次数后失效。9.如申请专利范围第5项之同步检测装置,其中每一晶片系适用于使用至预定日期,该处理器在超过预定日期后使晶片失效。10.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中该校准方法系由同组之主测试片导出相关讯息。11.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中船坞部份系适用于以预定相对于感测器之方向正向定位测试片。12.如申请专利范围第11项之同步检测装置,其中船坞部份系适用于使用预定之针脚与相对之洞配对预定之测试片组使得只有一种可达成预定方向之成功配对。13.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中该感应器包括至少一个LED及相关之光感测器。14.如申请专利范围第13项之同步检测装置,其中该感测器包括第一LED适用于在低于放射强度阀値之操作和第二LED适用于在高于放射强度阀値之操作。15.如申请专利范围第13项之同步检测装置,其中感测器包括第一LED适用于检测反应之总反射度及第二LED适用于量测反应预定颜色组成之反射度。16.如申请专利范围第13项之同步检测装置,其中感应器提供至少一个聚焦光线之模制镜片光学系统。17.如申请专利范围第1项之同步检测装置,进一步包括一储存检测信号之记忆体。18.如申请专利范围第17项之同步检测装置,进一步包括一由记忆体下传同步检测信号至检测装置远端位置之数据机。19.如申请专利范围第18项之同步检测装置,其中数据机装置于通讯模组其非接触地使用于随其通讯之同步检测装置,且其与位于远端位置之储存装置通讯。20.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中同步检测装置系由电子机械开关受船坞中测试片出现触发启动。21.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中同步检测装置系由光学开关受船坞中测试片出现触发启动。22.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中同步检测装置系由一对电极感应装置于船坞部份之测试片上血样存在而启动。23.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中感应器包括一对与血样电子通讯之电极。24.如申请专利范围第13项之同步检测装置,其中光感测器系遮蔽而不受周围光线照射。25.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中提供一组有检测装置之取样器,取样器数目与测试片数目相当。26.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中检测信号系以装置于外壳中的显示器显示。27.如申请专利范围第26项之同步检测装置,其中显示器系LCD装置。28.如申请专利范围第4项之同步检测装置,进一步包括一记忆体,相关性讯号由晶片上载并储存于记忆体中。29.如申请专利范围第28项之同步检测装置,其中晶片在上传后失效。30.如申请专利范围第28项之同步检测装置,进一步包括避免多次上载之机械式闩锁。31.如申请专利范围第4项之同步检测装置,其中晶片含一计数器,该处理器读出相关之测试片组中与测试片数目一致之预定之次数相关讯息,该计数器每次读値后递减。32.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中该处理器避免于预定期限后使用校准方法。33.如申请专利范围第1项之同步检测装置,其中同步检测装置含一取样装置。34.如申请专利范围第25项之同步检测装置,其中同步检测装置含一取样装置。图式简单说明:第一图A及第一图B系包括测试垫及体液分析夹之测试片具体实施例透视图;第二图系含透视垫夹之测试仪器具体实施例透视图;第三图系测试仪器及测试片与测试片结合图示;第四图系测试电极及读测试片之光学装置构造方块图;第五图A及第五图B系确定测试垫湿润并由接触使测试仪器开始计时之方法图示;第六图系包括测试仪器及测试片之系统工具组;第七图系包括测试仪器,测试片及取样装置之系统工具组;以及第八图系使用之两感测器及两发射器之光学系统。 |
