发明名称 FINE PITCH BVA USING RECONSTITUTED WAFER FOR AREA ARRAY AT THE TOP FOR TESTING
摘要 전기 전도성 재배선 구조체를 복수의 마이크로전자 요소 부착 영역과 함께 캐리어 상에 형성함으로써 복수의 마이크로전자 패키지를 동시에 제조하기 위한 방법. 부착 영역들은 서로 이격되고, 캐리어 위에 놓인다. 본 방법은 또한 인접한 부착 영역들 사이에 전도성 커넥터 요소를 형성하는 단계를 포함한다. 각각의 커넥터 요소는 캐리어에 인접한 제1 또는 제2 단부, 및 마이크로전자 요소의 높이에 있는 남은 단부를 구비한다. 본 방법은 또한 봉지부를 커넥터 요소의 부분들 위에 형성하고 후속하여 이 조립체를 마이크로전자 요소를 각각 포함하는 마이크로전자 유닛으로 싱귤레이션하는 단계를 포함한다. 재배선 구조체 반대편의, 마이크로전자 유닛의 표면은 마이크로전자 요소의 능동 면 및 커넥터 요소의 자유 단부 둘 모두를 구비하여, 둘 모두가 마이크로전자 유닛에 대해 외부에 있는 구성요소와의 접속에 이용가능하다.
申请公布号 KR20160110970(A) 申请公布日期 2016.09.23
申请号 KR20167022186 申请日期 2015.01.16
申请人 INVENSAS CORPORATION 发明人 KATKAR RAJESH
分类号 H01L23/31;H01L21/48;H01L21/56;H01L21/78;H01L23/00;H01L23/498;H01L25/10 主分类号 H01L23/31
代理机构 代理人
主权项
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