摘要 |
<p>Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung (2) zur Symmetrierung der Verlustleistung wenigstens zweier elektrisch parallel geschalteter Kaskodenschaltungen (41, 42,..., 4n), die jeweils einen niedersperrenden Halbleiterschalter (61, 62,..., 6n) aus Silizium und einen hochsperrenden Halbleiterschalter (81, 82,..., 8n) aus Siliziumkarbid aufweisen. Erfindungsgemäss wird eine Ausgangsspannung (DU'S'1, DU'S'2,..., DU'S'n) eines jeden niedersperrenden Halbleiterschalters (61, 62,..., 6n) erfasst, wobei in deren Abhängigkeit Korrekturwerte (UK1, UK2,..., Ukn) bestimmt werden, die korrespondierenden Steuersignalen (USt1, USt2,..., USTn) der niedersperrenden Halbleiterschalter (61, 62,..., 6n) überlagert werden. Somit kann man eine unsymmetrische Stromaufteilung aktiv symmetrieren.</p> |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;BAUDELOT, ERIC;BRUCKMANN, MANFRED;MITLEHNER, HEINZ;WEIS, BENNO |
发明人 |
BAUDELOT, ERIC;BRUCKMANN, MANFRED;MITLEHNER, HEINZ;WEIS, BENNO |