发明名称 双嵌金法的制造方法
摘要 一种嵌金法的制造方法,在具有金属层的基底上形成一介电层,而介电层中具有一上宽下窄的开口,而暴露出金属层。接着,过度蚀刻金属层,而在金属层中形成一凹槽,使金属层暴露出更多的面积,以供与后续形成的黏着层接触。之后,在开口与凹槽表面形成一黏着层,而黏着层若为金属,则对基底进行一热制程,而在金属层与黏着层接触处形成一阻值较低的合金,藉以提升欧姆接触能力,使元件可靠度增加。之后,再以知制程完成金属层之填入与平坦化步骤。
申请公布号 TW408443 申请公布日期 2000.10.11
申请号 TW087109050 申请日期 1998.06.08
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 李宗翰
分类号 H01L21/768 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种双嵌金法的制造方法,在一基底上形成有一定义之第一导电层,该第一导电层具一介电层,该介电层中形成有上宽下窄之一开口,暴露出该第一导电层;该制造方法至少包括:沿该开口去除部分该第一导电层,但不穿透该第一导电层,在该第一导电层形成一凹槽;对该基底形成一黏着层,覆盖住暴露出的该第一导电层表面与该介电层表面;以及对该基底形成一第二导电层,填满该开口与该凹槽,该第二导电层之一表面至少与该介电层之一表面同高。2.如申请专利范围第1项所述双嵌金法之制造方法,其中,该第一导电层包括金属层。3.如申请专利范围第1项所述双嵌金法之制造方法,其中,该第二导电层包括金属层。4.如申请专利范围第1项所述双嵌金法之制造方法,其中,该凹槽提供该第二导电层一较大的表面积与该第一导电层接触。5.如申请专利范围第1项所述双嵌金法之制造方法,对该基底形成一第二导电层,填该开口与该凹槽,更包括对该基底形成一第二导电层,延伸至该介电层表面;以及以化学机械研磨法去除该介电层表面之该第二导电层,则该第二导电层之一表面至少与该介电层之一表面同高。6.一种双嵌金法的制造方法,在一基底上形成有一定义之第一金属层,该第一金属层具一介电层,该介电层中形成有上宽下平之一开口,暴露出该第一金属层;该制造方法至少包括:去除部分暴露出之该第一金属层,但不穿透该第一金属层,在该第一金属层形成一凹槽;对该基底形成一黏着层,至少覆盖住该凹槽表面与该开口表面;对该基底进行一高温制程;以及对该基底形成一第二金属层,填满该开口与该凹槽,该第二金属层之一表面至少与该介电层之一表面同高。7.如申请专利范围第6项所述双嵌金法之制造方法,其中,该凹槽提供该第二金属层一较大的表面积与该第一金属层接触。8.如申请专利范围第6项所述双嵌金法之制造方法,其中,该高温制程使该黏着层与该第一金属层作用,使该第二金属层与该第一金属层具有一较佳的欧姆接触能力。9.如申请专利范围第6项所述双嵌金法之制造方法,其中,该黏着层包括金属层。10.如申请专利范围第6项所述双嵌金法之制造方法,其中该高温制程包括快速热制程。11.如申请专利范围第6项所述双嵌金法之制造方法,其中该高温制程包括回火制程。12.如申请专利范围第6项所述双嵌金法之制造方法,对该基底形成一第二金属层,填满该开口与该凹槽,更包括对该基底形成一第二金属层,延伸至该介电层表面;以及以化学机械研磨法去除该介电层表面之该第二金属层,则该第二金属层之一表面至少与该介电层之一表面同高。13.如申请专利范围第6项所述双嵌金法之制造方法,其中该第二金属层包括铜。图式简单说明:第一图A至第一图D系显示一种习知嵌金法的制造流程剖面图;以及第二图A至第二图E系显示根据本发明较佳实施例嵌金法之制造流程剖面图。
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