发明名称 半导体集成电路及其检查方法、液晶装置及电子装置
摘要 一种使脉宽可变的半导体集成电路,在检查工序是,使对锁存器输出进行初始化的复位信号的脉宽较宽,在通常使用时使该脉宽较窄。该半导体集成电路有:根据电源接通复位信号生成复位信号的复位信号生成电路;以及备有根据该复位信号使锁存器输出初始化的初始化电路的锁存电路。复位信号生成道路有以可变方式设定相当于复位信号的复位期间的脉宽的延迟电路。
申请公布号 CN1282108A 申请公布日期 2001.01.31
申请号 CN00121735.6 申请日期 2000.07.24
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 青木茂树;上条治雄
分类号 H01L27/02;G02F1/133;H01L21/66;G01R31/28 主分类号 H01L27/02
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 杨凯;叶恺东
主权项 1.一种半导体集成电路,其特征在于:备有:至少在电源刚接通后根据所输入的输入信号,生成有复位期间的复位信号的复位信号生成电路;备有根据上述复位信号使锁存器输出初始化的初始化电路的至少一个锁存电路;连接到上述复位信号生成电路上的第一焊区端子;以及连接到上述初始化电路的输出线上的至少一个第二焊区端子,上述复位信号生成道路有以可变方式设定相当于上述复位信号的上述复位期间的脉宽的延迟电路,上述延迟电路根据连接到上述第一焊区端子上的负载,使上述脉宽可变。
地址 日本东京都
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