| 主权项 |
1.一种耳温计探测罩盖之制造方法,系包括有:a.形成一可令红外线穿透之膜片;b.形成具有一封闭端及开放端之套体,该套体由开放端至封闭端之周面形成复数个余料且该封闭端形成一平面视窗;c.将上述复数个余料热压形成复数个凸片;d.将上述复数个凸片切除形成复数个切痕;及f.将套体之开放端与一环形底座结合。2.如申请专利范围第1项所述之耳温计探测罩盖之制造方法,其中该套体由开放端至封闭端渐缩小。3.如申请专利范围第1项所述之耳温计探测罩盖之制造方法,其中该步骤b系利用一具有开放端及封闭端之罩体,该罩体由开放端至封闭端之周面设有复数个狭长之开口,将该罩体罩于该膜片外,自该罩体之开放端对膜片加压,令膜片多余之材料自该开口压出。4.如申请专利范围第1项所述之耳温计探测罩盖之制造方法,其中该步骤d和该步骤f之间包括步骤e,该步骤e系将套体翻面,使上述复数个切痕位于该套体内面,使套体形成光滑之外表。5.一种如申请专利范围第1项所述制造方法所制成之耳温计探测罩盖。6.一种如申请专利范围第4项所述制造方法所制成之耳温计探测罩盖。图式简单说明:第一图系习知美国专利号码5163418「耳温计之探测罩盖」之平面图。第二图系习知美国专利号码5088834「耳温计之探测罩盖」之立体图。第三图系本发明较佳实施例之制造示意图。 |
