发明名称 补偿晶片上电阻之表面阻値的温度相关变化之装置
摘要 为补偿一晶片(l)上一主电阻器(Rl)之表面阻值的温度相关变化及制程变化,可透过正常情况下为断路的开关(SRll、SR12...SRln),与一个或多个补偿用电阻器(Rll、R12…Rln)串联。开关将响应在晶片(l)上于同一制程中制造,且与补偿用电阻器(Rll、R12…Rln)成比例的电阻器(R21、R22…R2n)两端的电压系高于或低于一固定参考电压(VR3)而被导通,俾将一个或多个补偿用电阻器(Rll、R12…Rln)与主电阻器(Rl)串联。
申请公布号 TW463215 申请公布日期 2001.11.11
申请号 TW089111064 申请日期 2000.06.07
申请人 LM艾瑞克生电话公司 发明人 阿伦 欧森
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种补偿之装置,用以补偿一晶片(1)上第一电阻器(R1)之表面阻値的温度相关的变化及制程的变化,其特征为该第一电阻器(R1)连接于一第一端点(N1)及一第二端点(N2)之间,其方式可为透过一正常情况下为断路的第一开关(SR1)直接连接,或透过一正常情况下为断路的第二开关(SR11.SR12…SR1n),与晶片(1)上至少一个补偿用第二电阻器(R11.R12…R1n)串联,而间接连接,一个比较器(K1),俾将一由参考电流(1)在晶片(1)外部之精准电阻器(R3)两端产生的参考电压(VR3),与由一和参考电流(1)完全相同的电流在晶片(1)上之第三电阻器(R2)(与该第一电阻器(R1)成比例)两端产生的第一电压(VR2)比较,且若参考电压(VR3)低于该第一电压(VR2),则产生一输出信号,以导通该正常情况下为断路的第一开关(SR1),使该第一电阻器(R1)直接连接至该第二端点(N2),以及至少一第二比较器(K11.K12…K1n),以比较固定参考电压(VR3)及一由该电流产生的第二电压,该电流与流经晶片(1)上之第三电阻器(R2)(至少与一个第四电阻器(R21.R22…R2n)串联,这些电阻器与该至少一个补偿用第二电阻器(R11.R12…R1n)成比例)的参考电流(1)完全相同,且若参考电压(VR3)低于与该至少一个第四电阻器(R21.R22…R2n)串联的第三电阻器(R2)两端的电压,则产生一输出信号,以导通该正常情况下为断路的第二开关(SR21.SR22…SR2n),将与该至少一个补偿用第二电阻器(R11.R12…R1n)串联的该第一电阻器(R1)连接至该第二端点(N2)。图式简单说明:第一图为根据本发明,用于晶片上之电阻器的补偿布置方式之实施例的图示说明。
地址 瑞典