发明名称 座标输入装置
摘要 一种座标输入装置,以手指等之导电体及笔等之非导电体的其中一方进行操作也不会损害操作感,进而为了达成小型化及薄型化,在具有树脂薄膜及保护层膜之静电容量式检测部,及具有树脂薄膜之感压式检测部,及基板,由保护层膜之表面到基板之背面为止用以形成贯通之通孔s,在此等之通孔藉由用以充填导电材,使X方向检测电极及基板导通,同时使Y方向检测电极及基板导通。
申请公布号 TW502201 申请公布日期 2002.09.11
申请号 TW090102369 申请日期 2001.02.05
申请人 阿尔普士电气股份有限公司 发明人 重高宽;松房秀人
分类号 G06F3/03 主分类号 G06F3/03
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种座标输入装置,其特征系具有:静电容量式检测部,使X电极及Y电极通过绝缘层相互对置被设置,使用指示器进行操作时使前述X电极及前述Y电极之间的静电容量产生变化并用以检测座标;及感压式检测部,使电阻器及对置于此的导电体加以对置被设置,以预定压力被操作时在前述电阻器及导电体之接触点根据前述电阻器之电阻値用以检测座标;并对前述感压式检测部使前述静电容量式检测部被积层在操作面侧,而前述静电容量式检测部,将前述感压式检测部具有可推压的柔软性,而前述感压式检测部,系在高电阻之电阻器的周围被设有低电阻之电阻器,并在对置于X方向之前述低电阻的电阻器间,及对置于Y方向之前述低电阻的电阻器间,轮流使电压被外加,藉由前述导电体及前述高电阻之电阻器的接触在前述低电阻之电阻器及前述导电体之间根据被检测电压使座标做为被检测。2.如申请专利范围第1项所记载之座标输入装置,系前述感压式检测部与静电容量式检测部系在相反侧被设有基板,在该基板系具有通孔由一面侧对他面侧进行贯通,而前述通孔系将前述静电容量式检测部及前述感压式检测部分别进行贯通,在前述通孔藉由使导电材被充填使前述静电容量式检测部之X电极及Y电极分别通过前述通孔与前述基板被导通。3.如申请专利范围第1项所记载之座标输入装置,系前述感压式检测部与静电容量式检测部系在相反侧被设有基板,在该基板系具有通孔由一面侧对他面侧进行贯通,而前述通孔系将前述静电容量式检测部及前述感压式检测部分别进行贯通,在前述通孔藉由使导电材被充填使前述感压式检测部之前述低电阻之电阻器及前述导电体通过前述通孔与前述基板被导通。4.如申请专利范围第2项所记载之座标输入装置,系在前述基板之背侧,使前述静电容量式检测部动作并使电路元件被实装,而通过被设于前述基板之背面的电路模型,使前述通孔及前述电路元件被连接。5.如申请专利范围第3项所记载之座标输入装置,系在前述基板之背侧,使前述感压式检测部动作并使电路元件被实装,而通过被设于前述基板之背面的电路模型,使前述通孔及前述电路元件被连接。6.如申请专利范围第1项所记载之座标输入装置,系在前述静电容量式检测部之操作面侧通过绝缘体被设有面板。图式简单说明:图1系显示将本发明座标输入装置搭载于电脑时之形态的斜视图。图2系显示本发明座标输入装置之分解斜视图。图3系图2之线L1部分的一部分放大剖面图。图4系显示感压式检测部之一部分剖面图。图5系图4之5-5线切断时的剖面图。图6系被设于本发明座标输入装置之基板的背视图。
地址 日本