发明名称 萤光测定装置
摘要 本发明之萤光测定装置使用激励光源,大致同时的测定试料室内之多个试料,或同一试料之多个点。在激励光之照射位置具备有旋转试料台2,在上述之旋转试料台2,于圆周上形成有多个之穿通孔2a,试料设置部3可以插入到该穿通孔2a,使试料台2对激励光之照射位置进行相对移动,即使不更换试料室1内之试料,亦可以进行多个试料之萤光测定。
申请公布号 TW200306408 申请公布日期 2003.11.16
申请号 TW092107082 申请日期 2003.03.28
申请人 大塚电子股份有限公司 发明人 松村义彦;藤村慎二
分类号 G01J3/46 主分类号 G01J3/46
代理机构 代理人 赖经臣;宿希成
主权项
地址 日本