发明名称 形成铁电存储器胞元的方法
摘要 本发明具有反向T形栅极堆叠的金属-铁电-金属-隔离-半导体(MFMIS)存储器装置,其可以仅利用一个字元线罩幕完成。这种金属-铁电-金属-隔离-半导体(MFMIS)存储器装置的制作是利用一个字元线罩幕形成字元线、并利用边衬形成一个反向T形栅极堆叠,因此可以相容于自我校准的蚀刻制程。
申请公布号 CN1482671A 申请公布日期 2004.03.17
申请号 CN03142589.5 申请日期 2003.06.11
申请人 华邦电子股份有限公司 发明人 刘豪杰
分类号 H01L21/82;H01L27/10;G11C11/22 主分类号 H01L21/82
代理机构 上海专利商标事务所 代理人 任永武
主权项 1.一种形成一铁电装置的方法,包括:利用一隔离区域,在一硅基底上形成至少一主动区域;在该至少一主动区域及该隔离区域上沉积多层,其中,该多层包括一隔离层、一第一电极层、一铁电层、一第二电极层及一第一介电层;基于一字元线罩幕,蚀刻该多层的至少一层,藉以形成一第一蚀刻层及一未蚀刻层;形成一第一边衬,藉以限定该第一蚀刻层;基于该第一边衬,蚀刻该未蚀刻层的至少一部分,藉以形成一第二蚀刻层;形成一第二边衬,藉以限定该第二蚀刻层;形成一中间介电层;在该中间介电层中开启一接触孔;以及形成一导电体,藉以填满该接触孔。
地址 台湾省新竹市新竹科学工业园区研新三路4号
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