发明名称 溢流道检验之聚电解质内校正系统
摘要 本发明提供侦测样品中分析物数量的溢流道检验。溢流道检验包含多孔膜,其在液体流动间与包含特殊结合物及可侦测探子的探子配对。多孔膜亦定义为一个检波区及一个校正区。校正区包含聚电解质非散布固定于多孔薄膜。聚电解质能产生检波信号,其可可立即比对(视觉上,数量上,等)来发觉信号以侦测测试样品中分析物的含量。
申请公布号 TW587166 申请公布日期 2004.05.11
申请号 TW091136622 申请日期 2002.12.19
申请人 金百利克拉克国际公司 发明人 希东 宋;宁 魏;柯特 赛芮
分类号 G01N27/26 主分类号 G01N27/26
代理机构 代理人 黄静嘉 台北市信义区忠孝东路四段五六三号九楼
主权项 1.一种溢流道检验,其可在测试样品中测试分析物存在或数量,此溢流道包含多孔薄膜,其中多孔薄膜与包含特殊结合物质及可察觉探子的探子结合物流动相连,多孔薄膜的定义:一个包含捕捉剂的检波区其能够结合分析物或探子结合物物,其中检波区能产生检波信号,其反应分析物存在或不存在;一个校正区,其中聚电解质非分散固定在校正区的多孔膜上,能结合探子结合物以产生校正信号,因此在测试样品中分析物相对数量由比较检波信号与第一校正信号及第二校正信号侦测。2.如申请专利范围第1项之溢流道检验,其中聚电解质为正电荷。3.如申请专利范围第2项之溢流道检验,其中聚电解质由聚离胺酸,聚乙醇胺,环氧氯丙官能聚胺及/或聚氨基胺,聚二丙烯二甲基-氯化铝,阳离子纤维素,及相似物中选择。4.如申请专利范围第1项之溢流道检验,其中聚电解质为负电荷。5.如申请专利范围第1项之溢流道检验,其中聚电解质为两性电荷。6.如申请专利范围第1项之溢流道检验,其中校正区包含至少两个有不同聚电解质浓度的区域。7.如申请专利范围第1项之溢流道检验,其中聚电解质与存在于多孔薄膜表面的官能基离子结合。8.如申请专利范围第1项之溢流道检验,其中聚电解质与存在于多孔薄膜表面的官能基共价结合。9.如申请专利范围第8项之溢流道检验,其中聚电解质与官能基交联。10.如申请专利范围第1项之溢流道检验,其中可侦测探子从发光体,催化剂,萤光物质,化学发光物质,放射性标签,可见标签,微脂粒,及结合物中选择。11.如申请专利范围第1项之溢流道检验,其中特殊结合薄膜从抗原,半抗原,抗体,及复合物中选择。12.如申请专利范围第1项之溢流道检验,其中捕捉剂从抗原,半抗原,抗体,及复合物中选择。13.如申请专利范围第1项之溢流道检验,其中检验为夹层式检验。14.如申请专利范围第1项之溢流道检验,其中检验为竞争式检验。15.一种溢流道检验,其可在测试样品中测试分析物存在或数量,此溢流道包含多孔薄膜,其中多孔薄膜与包含特殊结合物质及可察觉探子的探子结合物流动相连,探子结合构型以与测试样品中的分析物结合,当与此接触时,探子结合物/分析物复合物及未复合探子结合物形成,其中多孔薄膜定义:一个检波区,其中捕捉剂为非散布固定在多孔薄膜,捕捉剂能够结合探子结合物/分析物复合物,其中检波区能够产生检波信号;一个校正区其中一定量的聚电解质非分散固定在多孔薄膜上,聚电解质能结合非复合探子结合物以产生校正信号,因此在测试样品中分析物相对数量由比较检波信号与第一校正信号及第二校正信号侦测。16.如申请专利范围第15项之溢流道检验,其中校正区包含至少两个有不同聚电解质浓度的区域。17.如申请专利范围第15项之溢流道检验,其中聚电解质与存在于多孔薄膜表面的官能基离子结合。18.如申请专利范围第15项之溢流道检验,其中聚电解质与存在于多孔薄膜表面的官能基共价结合。19.如申请专利范围第18项之溢流道检验,其中聚电解质与官能基交联。20.一种溢流道检验,其可在测试样品中测试分析物存在或数量,此溢流道包含多孔薄膜,其中多孔薄膜与包含特殊结合物质及可察觉探子的探子结合物流动相连,其中多孔薄膜的定义:一个检波区,其中一定量的捕捉剂为非散布固定在多孔薄膜,捕捉剂能够结合探子结合物及分析物,其中检波区能够产生检波信号;且一个校正区其中聚电解质非分散固定在多孔薄膜上,聚电解质能和未与捕捉剂结合的探子结合物结合以产生校正信号,因此在测试样品中分析物相对数量由比较检波信号与第一校正信号及第二校正信号侦测。21.如申请专利范围第20项之溢流道检验,其中特殊的结合物质与分析物同源。22.一种溢流道检验,其可在测试样品中测试分析物存在或数量,此溢流道包含多孔薄膜,其中多孔薄膜与包含特殊结合物质及可察觉探子的探子结合物流动相连,探子结合构型以与测试样品中的分析物结合,当与此接触时,探子结合物/分析物复合物及未复合探子结合物形成,其中多孔薄膜定义:一个检波区,其中捕捉剂为非散布固定在多孔薄膜,捕捉剂能够结合未复合探子结合物,其中检波区能够产生检波信号;一个校正区其中聚电解质非分散固定在多孔薄膜上,聚电解质能和探子结合物/分析物复合物及残余未结合至捕捉剂的探子结合物结合,校正区能产生校正信号,因此在测试样品中分析物相对数量由比较检波信号与第一校正信号及第二校正信号侦测。23.如申请专利范围第22项之溢流道检验,其中捕捉剂与分析物同源。图式简单说明:第一图为本发明具体实施例俯视图,显示有三个校正线在校正区的溢流道检验;第二图为本发明溢流道具体实施例的透视图,显示在包含分析物的测试样品后之薄膜片应用至样品垫;第三图说明第二图显示的侧向检验,但与测试样品穿过检验;第四图为本发明另一个具体实施例俯视图,其中第四A图显示平行分析物流动的校正线且第四B图显示平行分析物流动的校正点;第五图显示为使用于本发明具体实施例的校正曲线;第六图显示如例子九揭示的CRP侦测校正曲线;第七图显示如例子十揭示的LH侦测校正曲线;第八图显示如例子十一揭示的白蛋白原侦测的校正曲线。
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