| 主权项 |
1.一种X光检查装置,包含有:X光照射机构,系用以对被检查物照射X光者;至少一个以上之检测机构,系用以检测来自前述X光照射机构之X光者;及移动机构,系用以使前述检测机构移动者,又,前述移动机构系使前述检测机构在相当于被检查物面积之范围内移动。2.如申请专利范围第1项之X光检查装置,其中前述多数检测机构系保持预定间隔地配置,并同时地移动。3.如申请专利范围第2项之X光检查装置,其中前述预定间隔系多数检测机构间之距离,而该等检测机构间之距离系各检测机构之有效检测部份之长度之大致n倍(n:自然数)。4.如申请专利范围第2或3项之X光检查装置,其系按照前述多数检测机构之配置,使利用前述移动机构移动之移动距离相对于被检查面为充分且重复最少。5.如申请专利范围第1至3项中任一项之X光检查装置,其中前述移动机构系对应前述多数检测机构之位置,使前述X光照射机构至少进行移动与旋转中任一动作。6.如申请专利范围第4项之X光检查装置,其中前述移动机构系对应前述多数检测机构之位置,使前述X光照射机构至少进行移动与旋转中任一动作。7.一种X光检查装置,包含有:X光照射机构,系用以对被检查物照射X光者;至少1个以上之检测机构,系用以检测来自前述X光照射机构之X光者;移动机构,系用以使前述检测机构移动者;及多数驱动控制机构,系用以控制前述多数检测机构者,又,前述多数检测机构与驱动控制机构分别连接,且于前述多数驱动控制机构间设置一个以上之处理机构,该处理机构透过进行同步驱动之同步机构,与前述多数驱动控制机构而输入来自前述多数检测机构之处理信号,并且具有一合成机构,该合成机构系用以输入来自前述多数处理机构之处理信号,以合成影像。8.一种X光检查装置之控制方法,具有:对被检查物照射X光之照射步骤,及至少以一个以上之检测机构检测业已照射于被检查物之X光之检测步骤,又,前述检测步骤更具有使前述检测机构在至少相当于被检查物面积之范围内一面移动一面检测之步骤。9.如申请专利范围第7项之X光检查装置之控制方法,其中X光检查装置系具有前述多数检测机构,又,前述移动机构使前述多数检测机构移动,使其移动相对于被检查面为充分且重复最少。10.一种X光检查装置之调整方法,其中该X光检查装置具有:X光照射机构,系用以对被检查物照射X光者;多数检测机构,系用以检测来自前述X光照射机构之X光者;及移动机构,系用以使前述检测机构移动者,又,该方法系使构成第1检测机构之X光之有效检测部份之成像元素之并列与移动方向一致,其后,使构成其他检测机构之X光之有效检测部份之成像元素之并列与构成前述第1检测机构之X光之有效检测部份之成像元素之并列一致。11.如申请专利范围第9项之X光检查装置之调整方法,其系使前述多数检测机构间之距离,成为各检测机构之X光有效检测部份之长度之大致n倍(n:自然数)。图式简单说明:第1图系显示本发明一实施形态之X光检查装置之结构之图。第2图系显示本发明一实施形态之X光检查装置之机构系统单元之透视图。第3图系显示本发明一实施形态之X光检查装置之扫描图案之图。第4图系本发明一实施形态之X光检查装置之自打开电源到就緖之流程图。第5图系本发明一实施形态之X光检查装置之自就緖到方格化摄影之流程图。第6图系显示习知X光检查装置之结构之概略图。 |
