发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 一种半导体装置之制造方法,可获得容易且准确控制贯穿电极的背面突出量。其步骤包含:将凹陷7形成于其表面上具备半导体电路2的基板主体6上;将绝缘膜8形成于凹陷7内壁面上;中间夹有绝缘膜8将导电材镶入于凹陷7内,以形成可作为贯穿电极5的埋入电极15;对于与表面相对应的基板主体6背面予以去除到,使埋入电极15端面露出为止,以作成贯穿电极5;对于基板主体6的背面进行阳极氧化以形成阳极氧化膜9;利用蚀刻来去除阳极氧化膜9以形成半导体基板4。
申请公布号 TW200415751 申请公布日期 2004.08.16
申请号 TW092118460 申请日期 2003.07.07
申请人 三菱电机股份有限公司;新力股份有限公司;富士通股份有限公司 发明人 根本义彦;星野雅孝;米村均
分类号 H01L21/768 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 赖经臣
主权项
地址 日本