发明名称 平坦化制程
摘要 一种平坦化制程系首先提供一基底,此基底上已形成薄膜,且薄膜中已形成有开口。接着,进行沈积制程以沈积一材料覆盖于薄膜且填满开口。之后进行研磨制程以移除部分之材料,而保留下位于开口内以及薄膜上之材料。然后,再次进行沈积制程以于保留下来的材料上继续沈积材料。接着,再次进行研磨制程以移除材料直到薄膜的表面裸露出来,且保留下位于开口内之材料。若位于开口内之材料表面尚未完全平坦,则重复进行材料之沈积与研磨直到材料表面完全平坦。由于此平坦化制程重复进行材料之沈积与研磨,所以可以解决知无法研磨平坦的问题。
申请公布号 TW200504852 申请公布日期 2005.02.01
申请号 TW092119805 申请日期 2003.07.21
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 丁一豪;仇圣棻
分类号 H01L21/304 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路十九号三楼
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