发明名称 高纯度Ni-V合金、该Ni-V合金构成之靶、该Ni-V合金薄膜及高纯度Ni-V合金之制造方法
摘要 本发明提供一种高纯度Ni-V合金及由该Ni-V合金构成之靶以及该Ni-V合金薄膜,其特征为Ni、V、及气体成分除外之Ni-V合金纯度均为99.9wt%以上,且铸锭间或靶间或薄膜间之V含量偏差在0.4%以内。所提供之高纯度Ni-V合金、由该Ni-V合金构成之靶及该Ni-V合金薄膜,其铸锭间或靶间或薄膜间之偏差少,可提升溅刻性,且严格地减少会发射α粒子而对半导体装置之微细电路有不良影响之U-Th等放射性同位素,并具99.9wt%以上纯度,并提供可有效减少前述杂质之高纯度Ni-V合金之制造方法。
申请公布号 TW200513544 申请公布日期 2005.04.16
申请号 TW093128206 申请日期 2004.09.17
申请人 日材料股份有限公司 发明人 新藤裕一朗;山越康广
分类号 C23C14/00 主分类号 C23C14/00
代理机构 代理人 林镒珠
主权项
地址 日本