发明名称 | 储存装置读取相位自动校正方法与相关机制 | ||
摘要 | 本发明提供一种对一储存装置进行读取相位自动校正之方法与相关机制。该方法具有:对该储存装置写入至少一预定样式之资料;以复数个读取相位当中之一读取相位,读取被写入该储存装置之资料;对应于该复数个读取相位当中之一读取相位,检查该读取步骤所读取之资料相对应于该预定样式之正确性;以及根据该检查步骤之检查结果,于该复数个读取相位当中决定一最佳相位。 | ||
申请公布号 | TW200519577 | 申请公布日期 | 2005.06.16 |
申请号 | TW092134816 | 申请日期 | 2003.12.10 |
申请人 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 发明人 | 张义树;汤森煌 |
分类号 | G06F11/00 | 主分类号 | G06F11/00 |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹县新竹科学园区工业东九路2号 |