| 摘要 |
一种半导体记忆体装置，用以藉由控制资料输出操作以测量一资料存取时间，该装置包括：一管锁存控制单元，用以依据一测试模式信号产生一输入控制信号；一管锁存单元，用以接收资料及在一正常模式中以同步于一时钟信号方式依据一CAS脉冲延迟时间控制该资料或者依据该输入控制信号在一测试模式中传送该资料而不需同步于该时钟信号；一输出控制单元，用以依据该测试模式信号产生一输出节点控制信号；以及一输出单元，用以在该正常模式中以同步于该时钟信号方式依据该CAS脉冲延迟时间控制一从该管锁存单元输出之输出资料或者依据该输出节点控制信号在该测试模式中传送该输出资料而不需同步于该时钟信号。 |
